SJ 20348-93低副瓣平板裂縫天線性能遠場測試方法

【 標準編號 】 SJ 20348-93
【 標準名稱 】 低副瓣平板裂縫天線性能遠場測試方法  
【 英文名稱 】 Methods of far-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes
【 發布單位 】 中華人民共和國電子工業部
【 批準單位 】 中華人民共和國電子工業部
【 發布日期 】 1993-5-11
【 實施日期 】 1993-7-1
【 開本頁數 】 14P
【 引用標準 】 SJ 2534.4-85; SJ 20347-93
【 起草單位 】 電子工業部第十四研究所
【 起 草 人 】 方同城; 龔至澤; 劉文華