精確測(cè)量需要千分尺。第一個(gè)這樣的測(cè)量工具是由法國發(fā)明家Jean Laurent Palmer 在1848 年獲得了專利,被稱為“帶圓游標(biāo)尺框的螺紋卡尺”。今天,我們?nèi)匀焕眠@一典型特征制造外徑千分尺。千分尺引入機(jī)械世界開始于兩個(gè)美國工程師Joseph R. Brown 和Lucian Sharpe 在1867 年對(duì)巴黎展覽會(huì)的訪問,他們的注意力被Palmer 的發(fā)明所吸引,并非常感興趣。在對(duì)Palmer 的設(shè)計(jì)加以改進(jìn)之后產(chǎn)品被大批量制造,并由這兩位合伙人在市場(chǎng)上成功地推廣。
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1.刻度的讀法
● 標(biāo)準(zhǔn)刻度時(shí)(分度值0.01mm)
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通常情況下,可以像上圖那樣讀取到分度值0.01mm,也可以像下圖所示那樣,讀取分度值到0.001mm。
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● 帶有游標(biāo)時(shí)(刻度0.001mm)
帶游標(biāo)的千分尺在套管基線的上面有游標(biāo)刻度。
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● 帶計(jì)數(shù)時(shí)(分度值0.001mm)
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2.定壓裝置
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3.因視差而引起的誤差
因?yàn)閮蓚€(gè)刻度面的階差,當(dāng)對(duì)齊刻度線來讀取數(shù)據(jù)時(shí),由于眼睛的位置關(guān)系,看到的讀數(shù)線位置不同而引起的誤差。
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4.因溫度變化產(chǎn)生的測(cè)量誤差
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5.因溫度變化產(chǎn)生的千分尺與基準(zhǔn)桿的伸縮差
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6.因溫度變化產(chǎn)生的基準(zhǔn)桿的伸縮(相對(duì)于200mm 20℃)
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以手心溫度為21°C, 27°C, 31°C 的3 人,分別手握基準(zhǔn)桿,測(cè)量其伸縮變化為例。
7.阿貝原理
“被測(cè)量物與標(biāo)準(zhǔn)尺在測(cè)量方向上必須置于一條直線上”。例如左圖所示,當(dāng)測(cè)頭離開特殊的千分尺的刻度軸線時(shí)(R),容易產(chǎn)生誤差(ε),因此需要特別注意測(cè)力。
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8.虎克定律
往具有某一長度與斷面的物體上施加負(fù)荷時(shí),在彈性限度內(nèi)引起伸縮位移量的定律。
9.螺紋千分尺的主要測(cè)量誤差
誤差的原因 | 可能產(chǎn)生的
最大誤差 | 消除誤差的注意事項(xiàng) | 即使加以注
意也無法消
除的誤差 | 千分尺的進(jìn)給誤差 | 3μm | 1. 補(bǔ)正后使用 | ±1μm | 測(cè)砧與心軸的角度誤差 | 半角誤差為
15分
±5μm | 1. 測(cè)量角度誤差后補(bǔ)正
2. 用與被測(cè)量物相同的螺紋量規(guī)調(diào)整 | 推定半角
測(cè)量誤差為
+3μm | 測(cè)砧與心軸的錯(cuò)位 | +10μm | | +3μm | 測(cè)力的影響 | +10μm | 1. 盡量使用低測(cè)力的量具
2. 必須使用棘輪鎖緊
3. 用螺距相等的螺紋量規(guī)調(diào)整 | +3μm | 基準(zhǔn)規(guī)的角度誤差 | +10μm | 1. 進(jìn)行補(bǔ)正計(jì)算(角度)
2. 補(bǔ)正長度誤差
3. 用與被測(cè)量物相同螺距的量規(guī)調(diào)整 | +3μm | 基準(zhǔn)規(guī)的長度誤差 | ±(3+L/25)μm | 1. 進(jìn)行補(bǔ)正計(jì)算
2. 用與被測(cè)量物相等的螺紋量規(guī)調(diào)整 | ±1μm | 測(cè)量物角度誤差 | JIS 2 級(jí)半角
誤差± 229 分
-91μm
+71μm | 1. 制作時(shí)盡量減小角度誤差。
2. 測(cè)量角度誤差,進(jìn)行補(bǔ)正計(jì)算
3. 角度誤差較大時(shí)用三針法 | 半角誤差
±23分
±8μm | 綜合測(cè)量誤差 | (±117+40)μm | 可能發(fā)生的誤差累計(jì)值 | +26μm
-12μm |
10.三針裝置
有效直徑的計(jì)算公式:
米制螺紋、統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)螺紋時(shí)(60°)
E= M-3d+0.866025P
惠式螺紋時(shí)(55°)
E= M-3.16568d+0.960491P
但是 P: 螺紋的間距(為統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)螺紋時(shí),將英制換算為公制)
d: 三針徑
E: 有效直徑
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11.三針法的主要測(cè)量誤差
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12.通過平行平晶干涉條紋可檢測(cè)平行度
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首先使平行平晶緊貼測(cè)砧的測(cè)量面。觀察在測(cè)力作用下心軸方向由白色光產(chǎn)生的紅色干涉條紋的數(shù)量。在上圖中為0.32μm× 3 = 0.96μm,平行度約即為1μm。
13.通過平面平晶的干涉條紋可檢測(cè)平面度
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