關于合像水平儀檢平板的疑問？

向各位請教，工廠一般的平板等級是多少？用分度值為0.01mm/m的合像水平儀可以檢幾級的平板？另外，是否一定需要橋板？不需要的話，計算平板平面度的公式該如何計算呢？謝謝指教！

樓主提出了一個不是很好回答的問題：
      ⑴ 如果按照GBT 20428-2006巖石平板和GBT 22095-2008 鑄鐵平板標準，平板的準確度等級已經與國際標準接軌，分別為0、1、2、3四個等級；如果按照JJG117-2005平板規程，則依舊引用作廢的技術文獻JB/T 7974-1999鑄鐵平板和JB/T 7975-1999巖石平板標準，平板的準確度等級分別為00、0、1、2、3、五個等級；而且新標準與舊規程、舊標準在平面度技術指標的計算公式方面完全不同。同樣是由國家質量技術監督局頒發的規程與標準的差異，給生產制造、檢定/校準、產品出口帶來了很大的麻煩。所以我講樓主提出了一個不是很好回答的問題，原因就在于此。
      ⑵ 按照JJG117-2005平板規程，用分度值為0.01mm/m的合像水平儀可以檢1級及以下等級的平板。
      ⑶ 用小角度測量儀器是以“節距法”檢定平板，也就是講以檢被測截面的有限個點來替代被測截面的無數個點，以被測截面的直線度誤差折線來替代被測截面的直線度誤差曲線，搞清楚測量原理的基礎上，我們就可以清楚的看出測量是一定需要橋板的。其計算公式在JJG117-2005平板規程中可以看出，實際上就是一個兩端點連線直線度計算公式（不方便列出），其它所謂計算公式均是由此變形簡化而來，評定方法按對角線評定原理來理解就可以了。
      ⑷ 綜上所述可以看出：測量是一定需要橋板的。如果不用橋板，計算平板平面度的公式本人確實不知，可請高手來給以解答。

回復 2# xqbljc


    請教一下：
    老早的印象中，鑄鐵刮研平板，可以三塊對研，然后看接觸點數來判斷等級，現在這條還有嗎？

非常感謝樓上的答復，學習了。再請問有合像水平儀和橋板的廠家介紹嗎？經濟實惠的。

回復 3# 星空漫步

     談不上請教，太客氣了，咱們共同探討：
     現行的JJG117-2005平板規程4.4.3規定：刮制鑄鐵平板的局部平面度除應按4.4.2的要求外，還應滿足接觸點數的要求。由于刮制工藝生產的鑄鐵平板實際上是由相當多數量的刮制點組成的平面，那么檢測接觸點數也就是控制其局部磨損的程度即局部平面度的（生產或使用造成的）。但是該項檢測由于研具的大小、等級、受力，研磨軌跡等問題不好控制，難以具體量化，所以往往對檢測結果容易引起爭議。為此JJG117-2005平板規程在4.4.3還補充規定：對接觸點數的測量結果有爭議時，應測量接觸點面積比率，并以此作為測量結果。但實際上接觸點面積比率的檢測盡管從文字描述好象有些方便具體量化，其實可操作性也不是很好，但畢竟在文字描述上好象無可挑剔。
     所以刮制鑄鐵平板的檢測接觸點數、接觸點數差及仲裁方法接觸點面積比率的檢測均是為了控制其平板局部平面度的，這也是對“節距法”檢測，“對角線法”評定缺陷的一個補充。
     至于平板生產制造過程中的“三塊對研”，應該講是傳統且有其道理的一種加工工藝或檢測方法（缺乏小角度測量儀器的情況下），但隨著較大甚至特大規格的平板的生產制造，“三塊對研”的傳統方法由于無法適應，早已被突破，這也就是生產加工工藝和檢測方法的進步和發展。

回復 4# sjli


    合象水平儀的制造生產廠家我們國家老資格的主要是山東濰坊量具廠，沈陽和上海水平儀廠，至于橋板和平面波動量檢查儀，你可電話13305410737聯系一下，我們使用后感覺還不錯。

回復 5# xqbljc


    多謝解答！

    我沒看過JJG117-2005（上次下載的不知道怎么打不開了），我覺得刮研平板起作用的還是那些接觸點，所以其平面度不應該用普通的方法來檢定，至少不能用三坐標測量機把那些凹陷部分的點也都采上。大一些的平板利用橋板進行檢測應該是可以的，那小的刮研平板應該怎么做呢？

    過去，也只是小的刮研平板做三塊對研，大的因為弄不動，所以也不能做三塊對研。

回復 7# 星空漫步


    你的意見是對的，刮研平板確實是那些相對較高的接觸點組成了平面，所以用三坐標測量機把那些凹陷部分的點也都采上顯然是不合適的（凹陷部分的地方可以儲藏空氣，所以在使用時工件在上面推動不會有發澀的感覺），小的刮研平板做三塊對研進行檢測，歷史上包括現在某些地方，確在用這種方法，也確實有其道理，并方便操作，只是具體平面度數值無法量化，所以規程沒有推薦這種方法。但可以用刀口形直尺模擬理想直線，用塞量塊的方法進行檢測，當然評定還是用對角線確定的評定基準的位置去進行。

回復 8# xqbljc


    用刀口形直尺模擬理想直線，或用塞量塊的方法進行檢測，也無法量化吧。

    在小刮研平板上放上反射鏡之類的，采用節距法測量，恐怕取不了很多個點，估計5X5還是能夠做到。
    如果所取到的點數太少，那么所得出的平面度也就不那么可靠了。

    別看就那么一塊平板，在實際應用中仔細想來問題還是挺多的，至少對我個人是這樣子的。
    還要繼續不斷地學習啊！

回復 9# 星空漫步


    用刀口形直尺模擬理想直線，并同時用塞量塊的方法進行檢測，平面度數值是可以量化的。
    對于平板檢測過程中的取點問題，JJG117-2005規程遵循的原則是：⑴取有代表性的點，比如各截面的中點、四個角點、均勻分布的那些點；⑵在能夠反映平板真實情況的前提下，取的點越少越好；9、25、49、121個最少點的規定，是有實驗數據做依據的，也符合規程四性的原則，即：科學性、正確性、可行性、經濟性；⑶規程不反對檢測平板時的多取點，只要測量結果的不確定度U≤1/3MPEV即可，所以“權利”和“義務”都在檢定員手里，規程的人性化還是比較好的。

回復  星空漫步


    用刀口形直尺模擬理想直線，并同時用塞量塊的方法進行檢測，平面度數值是可以量化的 ...
xqbljc 發表于 2010-1-7 16:37

    多謝耐心解答！

    我對第一句話還是有些不理解，如果用刀口尺觀察某一截面，縫隙多大可以由經驗做大致的判斷。
    我先前沒注意到您上邊說的“并同時用塞量塊的方法進行檢測”，應該是塞“塞尺”吧。

    我的疑問是用上述方法時基準怎么找、基準如何統一，單一截面的直線度是可以明白了，整個平面的平面度需要基準統一以后才能算得出來。

    用對角線法嗎？刀口尺變換測量截面時，接觸點也在變，所以我想不明白如何才能做到基準統一；要是中央點最高，那到方便了，如果不是呢？
是不是也只能以其中的一條線作為參照，在大概的位置上，做一個換算，最后求出平面度呢？我覺得即使是這樣，如果刀口尺的接觸點不在那條參考線上也會有問題。

    我這樣理解對嗎？

非常贊同xqbljc 的解答。
       做以下補充意見供參考：
       1.用水平儀檢平板必須使用橋板。
       試想從前面的操場到二樓，到馬路，再到五樓，最后到后面的操場，如果不使用橋板，在每個地點的局部平面用水平儀測量均是0，難道說前面的操場到二樓，到馬路，再到五樓，最后到后面的操場這是一個平面嗎？
       2.接觸點數測量僅僅適用于刮制鑄鐵平板的局部工作面平面度檢測。
       JJG117-2005的6.4條“檢定結果的處理”指出“平板準確度級別的判別根據工作面平面度、局部工作面平面度和表面粗糙度的測量結果確定，取其中級別最低的作為檢定結果”，“工作面平面度、局部工作面平面度和表面粗糙度”主要三個參數要求要綜合評定，“局部工作面平面度”（刮研平板的接觸點）不能代替整個“工作面平面度”。
       3.用分度值為0.01mm/m的合像水平儀可以檢1級及以下等級的平板也不能絕對化。
       按照JJG117檢定規程“表8檢定項目和主要檢定設備”規定“1、2級平板用分度值0.01mm/m電子水平儀或合象水平儀；3級平板用分度值為0.02mm/m水平儀”，就是用分度值為0.01mm/m的合像水平儀可以檢1級及以下等級的平板的意思。但是關鍵還應該看到該規程的4.2條“工作面平面度測量結果不確定度應滿足公式(1)要求”。即U95≤Fm/3；式中U95為平面度測量結果的不確定度，μm；Fm 為平板平面度最大允許誤差，μm。在決定是否選擇分度值為0.01mm/m的合像水平儀檢測時，應該查一下規程的“表1 平板工作面平面度最大允許誤差”然后用公式(1)計算判定一下，滿足公式(1)的不論是否1級以下就都可以，不滿足公式(1)，即便是2級平板也是不可以使用的。

回復 11# 星空漫步


      所謂用刀口形直尺模擬理想直線，用塞量塊的方法進行檢測，實際上就是在被檢平板的某個截面兩端分別放置相同尺寸的量塊，并將刀口形直尺的工作刃口豎直放在這兩塊量塊上面，刃口中間用合適尺寸的量塊進行試塞，中間量塊與兩端量塊的尺寸差就是該點對兩端點連線的直線度偏差。同理，平板其余被測截面的直線度偏差均可這樣檢出。
     下一步的評定就是根據空間的兩條直線可以確定一個平面的原理，由兩條對角線確定理想平面（評定基準）的位置，其中一條對角線通過理想平面，另一條對角線平行于理想平面，這樣理想平面（評定基準）的位置就確定下來了。通過理想平面的對角線各點對兩端點連線的直線度偏差就是對理想平面的平面度偏差，平行于理想平面對角線由于和另一條對角線中間交點是同一個點，所以其對兩端點連線的直線度偏差加上兩條對角線交點處的高度差（平移量），應該就是該條對角線上各點對理想平面的平面度偏差。其余四條邊線利用旋轉就可轉換到相對理想平面的平面度偏差上去，兩條中線通過平移并旋轉也可轉換到相對理想平面的平面度偏差上去。這樣，平板上各點對理想平面（評定基準）的偏差就都計算出來了。所以，平板的平面度是可以量化的。
     說實話，上述方法我從來不用，你想，用量塊去試塞，很容易劃傷量塊，誰舍的那樣去做呢！但作為一種方法寫到規程里，確實無可挑剔。
     關于“基準”的問題，再羅嗦兩句。此種方法的“基準”有兩個，一個就是測量基準，所謂測量基準就是模擬理想直線的刀口形直尺工作刃口；另一個就是評定基準，所謂評定基準就是由兩條對角線確定的理想平面位置。

回復 11# 星空漫步


    JJG117-2005的6.3.4.4條對“刀口尺法”是這樣描述的：
       測量時，在平板被測截面兩端放置兩塊尺寸相同的量塊(如1mm )，將刀口尺放在量塊上，用量塊在截面測量點處向刀口尺與平板之間的間隙試塞，則量塊剛剛塞人時的尺寸與兩端量塊尺寸之差，即為測量點對兩端點連線的偏差。根據平面度評定方法進行數據處理，計算得出平板工作面平面度。
       這里關鍵是兩點，一是試塞，二是計算。
       試塞的目的是得到測量點對兩端點連線的偏差值大小。
       計算的目的是根據平面度評定方法進行數據處理，計算得出平板工作面平面度。但是試塞法和水平儀測量法完全不同，試塞法不屬于“節距法”。在獲得初始評定數據時，“節距法”采取累積法使同一截面各被檢點測量數據統一到同一個測量基準上（以第一個被檢點為測量基準）。試塞法得到的某一個測量截面測量數據本身則就已經是這個截面的同一個測量基準（兩端點連線），兩個不同截面的被檢點數據只需要通過它們的某一個共同被檢點聯系在一起，使這個共同點的測量結果相等，就可以進行與節距法相同的下一步計算了。

多謝樓上兩位的答復，今晚有事不能仔細琢磨了，等有空了再靜下心來好好學習一下，有不明白的說不得還要請教。

以前從論壇里下載的JJG117今天白天不知道怎么打不開了，搞了半天原來是輸入密碼錯了，剛剛才明白。
RAR打開后有文字顯示為http://www.bkd208.com, 我把它記成密碼了，可實際需要輸入www.bkd208.com才能打開!有點郁悶。

回復 12# 規矩灣錦苑

      對12樓補充意見的補充：
      1.用水平儀檢平板必須使用橋板
         用“從前面的操場到二樓，到馬路，再到五樓，最后到后面的操場”來解釋用水平儀檢平板必須使用橋板，就象在你在http://www.bkd208.com/viewthread.php?tid=17438&extra=&page=2  的“山谷的小平面，山峰的小平面和另一個山谷小平面”的解釋一樣，既不通俗，更談不上確切。拋開所謂的“二樓和再到五樓”不講，所謂“操場、馬路、最后到后面的操場”也未必就是一個平面，在每個地點的局部平面用水平儀測量也未必“均是0”，他們相對于水平面難道就不可以向相反的方向傾斜嗎？！所以用水平儀檢平板必須使用橋板的原理，還是用以檢被測截面的有限個點來替代被測截面的無數個點，以被測截面的直線度誤差折線來替代被測截面的直線度誤差曲線來解釋更為合理、清晰。
      2. 刮研平板的接觸點與局部工作面平面度的關系，不能彼此等同或替代。刮研平板的接觸點檢測僅對由刮制加工工藝生產制作的鑄鐵平板有關，而局部工作面平面度檢測卻對所有加工工藝生產制作的鑄鐵平板、巖石平板等（應該也包括陶瓷平板等）均有關。所謂工作面平面度實際上就是工作面整體平面度（現行平板標準），它與局部工作面平面度的關系應為整體包含局部，局部決定整體。
    3.規程中合像水平儀可以檢1級及以下等級的平板的規定，不必再去考慮規程的4.2條“工作面平面度測量結果不確定度應滿足公式(1)要求”。即U95≤Fm/3”；因為規程正是在考慮到此要求的基礎上，才提出了合像水平儀可以檢1級及以下等級的平板的規定。所以不存在所謂“絕對化”的問題。另外除規程外，許多計量雜志，計量技術資料均對合像水平儀可以檢1級及以下等級的平板有過分析文章探討。應屬板上定釘的事。

回復 14# 規矩灣錦苑


      你的“節距法”采取累積法使同一截面各被檢點測量數據統一到同一個測量基準上（以第一個被檢點為測量基準）”的說法，依舊是你自己過去的說法，也依舊是別人無法看懂的說法。在“節距法”測量中，我依舊堅持所謂測量基準就是小角度測量儀器的主光軸或其相對、絕對水平零位。什么“以第一個被檢點為測量基準”或“統一到同一個測量基準上”的話，只能是自己解釋不過去，別人無法看懂的自創話語。
      在“刀口尺法”測量中，測量基準我前面談到應該是模擬理想直線的刀口形直尺工作刃口，它與兩端點連線可能重合，但決不是一個東西，兩端點連線應該是近似評定直線度誤差的評定基準，測量基準與評定基準在坐標系中可以重合，但不應該混為一談，它倆完全是兩件事。

感謝大家的共同分享，看了下規程和大家所說，我們打算購買合像水平儀，但不知橋板購買多長尺寸的好？有什么規格要求嗎？

回復 18# sjli


    橋板的可調整范圍一般為（100～600）mm。

回復 17# xqbljc


    我覺得形位誤差測量中有三個關于“基準”的概念要非常清楚，即“測量基準”、“評定基準”、“基準要素”。
       對于基準要素，因為平直度測量的是“單一要素”，不是“關聯要素”，所以就不存在“基準要素”的問題。我們可以不討論。
       對于平面度的評定基準就是符合最小包容區域條件的理想平面，有時候人們往往用接近于最小包容區域平面的平面作為評定基準，例如：對角線平面，最小二乘平面、三遠點平面等。無論采用什么測量方法，評定基準都是相同的，也就是說各種平面度評定計算方法均適用于采用任何測量方法方法得到的檢測數據處理。
       我們現在討論的所謂方法的不同，其本質就表現在測量基準的不同。測量基準是讀數的參考對象。
       為了便于說明問題，我們以直線度測量為例，被測點分別為0、1、2、3、4五個。采用節距法測量，第1點是相對于0點讀數的，0點是測量基準；第2點是相對于1點讀數的，1點是測量基準；以此類推，2點是第3點的測量基準，3點是第4點的測量基準。因此節距法的每個被檢點測量基準不是同一個。水平面不是海平面，任何海拔高度都可以產生水平面，因此用水平儀測量直線度不使用橋板，在任何海拔高度都有可能讀出0的，這就是我說的操場、馬路、幾樓、山峰都可以得到0，可是我們卻絕對不可能把它們用一條直線連接，即直線度絕對不是0。用自準直儀和光靶測量直線度，測量基準只有一個，就是射出來的光線，每個被檢點的讀數都相對于這個基準讀數，如果每個點的讀數都是0，我們完全可以大膽地說，直線度誤差就是0。
       進行直線度的評定首要條件是，參與評定的數據必須是同一個測量基準下得到的數據。于是我們對于節距法測得的數據就必須將各被檢點的測量基準統一到同一個測量基準上去后，變成由統一的測量基準測得的數據，使基準統一的最有效的方法就是累積法。而自準直儀測量的數據則不必統一基準，因為測量基準本來就是統一的。至于“以被測截面的直線度誤差折線來替代被測截面的直線度誤差曲線來解釋”，我覺得這不是節距法的特點，任何方法測得的結果都是用被測截面的直線度誤差折線來替代被測截面的直線度誤差曲線。

關于第2點. 我同意你的“刮研平板的接觸點與局部工作面平面度的關系，不能彼此等同或替代。刮研平板的接觸點檢測僅對由刮制加工工藝生產制作的鑄鐵平板有關，而局部工作面平面度檢測卻對所有加工工藝生產制作的鑄鐵平板、巖石平板等（應該也包括陶瓷平板等）均有關”意見。但是“局部決定整體”并不是“局部代替整體”，整體平面度和局部平面度是平板檢定的兩個不同的參數，必須同時滿足，相互之間不能替代。接觸點檢驗是刮研平板的局部工作面平面度的檢定方法之一，但是決不能代替整體平面度的檢定。

關于第3點，我不太贊同你“不必再去考慮規程的4.2條”的意見。作為國家計量技術標準，每一條都是重要的。而且我覺得JJG117檢定規程表8的規定是對4.2條的落實，不能完全代替4.2條，例如平板規格過小或者過大，就不能按表8。也就是說平板過小，0.01的合像水平儀不可以檢1級平板，平板過大0,01的合像水平儀可以檢高于1級的平板，應該按“工作面平面度測量結果不確定度應滿足公式(1)要求”，即U95≤Fm/3的原則選擇測量設備，4.2條是平面度測量的測量設備選擇根基。

回復 20# 規矩灣錦苑


    問題的探討，已經超出了樓主所提問題的范圍，但對平直度檢測應該講還是有益的，所以不存在“跑偏”的情況。
    樓上所談到的三個關于“基準”的概念，最后一個“基準要素”，應理解為測量、評定基準或被測量的點、線、面、體等的幾何要素，同意樓上的意見，此所謂的“基準要素”，可以暫不討論。
    在探討問題之前，有必要對我們國家平直度量具的標準和檢定規程的發展及變化做一個大概的了解：
    20世紀50年代末，國家標準計量局制定的平直度量具檢定規程有21-58《平板》、23-58《平晶》、28-58《平尺》等，這些基本是參照前蘇聯標準（規程）制定的；
    20世紀60年代初，國家標準計量局制定的平直度量具精度規范有GL28-62《平晶》、GL31-62《平板》、GL32-62《檢驗平尺》；
    20世紀60年代中期，國家標準計量局修訂了規（G）長-21-65《平板》、規（G）長-23-65《平晶》、規（G）長-28-65《寬面平尺》等，這些基本是1958年檢定規程的翻版，也就是講內容改動不大；
    20世紀70年代國家計量局修訂了JJG63-75《樣板直尺》、一機部制定了JB2214-1977《檢驗平尺》，隨著形位公差試行標準的宣貫，國家計量局、一機部組織了兩次平板檢測研討會，即1976年夏的北京會議、1977年的襄樊會議。在這之后，國家計量局修訂了JJG116-78《平尺》和JJG117-78《平板》兩個檢定規程。
    20世紀80年代國家技術監督局發布了GB11336-1989《直線度誤差檢測》、GB11337-1989《平面度誤差檢測》，這使平直度檢測有了基礎標準。這期間國家標準局修訂了GB4986-1985《鑄鐵平板》、GB4987-1985《巖石平板》、GB6318-1986《鑄鐵平尺》、GB6319-1986《鋼平尺和巖石平尺》等標準；國家計量局修訂了JJG28-80《平晶》、JJG116-83《平尺》等規程。1984年，國際標準化組織提出了ISO/DP8512/1.2：1984《平板國際標準建議草案》，這也就是我們國家現行平板標準的雛形；
     20世紀90年代后國家技術監督局修訂了JJG28-91《平面平晶》、JJG117-91《平板》等規程；還修訂了JB/T7977-1999《鑄鐵平尺》、JB/T7978-1999《鋼平尺、巖石平尺》、JB/T7974-1999《鑄鐵平板》、
JB/T7975-1999《巖石平板》等標準；
     本世紀 國家技術監督局修訂了JJF1059-1999《測量不確定度評定與表示》和 JJF1094-2002《測量儀器特性評定》替代JJF1027-1991《測量誤差及數據處理技術規范》，還修訂了JJF1097-2003《平尺》；
     2004年國家質量技術監督檢驗檢疫總局修訂了GB11336-2004《直線度誤差檢測》、GB11337-2004《平面度誤差檢測》、GB/T6091-2004《刀口形直尺》等標準；
     2005年國家質量技術監督檢驗檢疫總局修訂了JJG117-2005《平板》等規程；
     2006年國家質量技術監督檢驗檢疫總局修訂了GB/T20428-2006《巖石平板》標準，從而與國際標準進行了接軌。
     2008年國家質量技術監督檢驗檢疫總局修訂了GB/T22095-2008《鑄鐵平板》標準，從而與國際標準進行了接軌。
     2009年國家質量技術監督檢驗檢疫總局修訂了JJG28-XXXX《平晶》規程，現已通過審定。
     以上就是我們國家平直度量具的標準和檢定規程的發展及變化的一個大致情況，了解這些發展及變化的過程與來龍去脈、內在原因等，對我們今天探討問題應該講是非常必要同時也是有益的。
     樓上談到： 用接近于最小包容區域平面的平面作為評定基準，例如：對角線平面，最小二乘平面、三遠點平面等。無論采用什么測量方法，評定基準都是相同的。這應該是不可能的事情，所謂 評定基準是否相同，主要指的是其“位置”是否相同，試想，當確定其位置的要素：對角線平面，最小二乘平面、三遠點平面等均不相同的情況下，評定基準的位置怎么會相同呢？！這也就是JJG117-2005規程推薦對角線法的原因之一。盡管對角線法評定所得到的平面度是近似的，是不符合最小條件準則的，但結果卻是唯一的；而三點法盡管也是近似的，是不符合最小條件準則的，但結果卻不是唯一的，這不就是由于確定評定基準的要素不同，而導致評定基準的位置不同，進而導致它們的評定結果及唯一性不同嗎？！所以“評定基準都是相同的”的說法是沒有道理的。

回復 20# 規矩灣錦苑
續前頁：

    樓上闡述觀點的主要錯誤在于對測量基準的不正確理解，所以其談到“現在討論的所謂方法的不同，其本質就表現在測量基準的不同”，我們現在探討的問題是使用小角度測量儀器（水平儀或自準直儀），以“節距法”對被測截面進行直線度測量，所謂方法的不同，在“節距法”的前提下，只能是布線布點的方式和評定基準的位置不同，在正確操作的基礎上與測量基準不可能出現的不同無關。
     我們在直線度測量中談到的測量基準通常分為三類：實物基準、水平基準和光軸基準，實物基準不是我們今天探討的問題，放在一邊；水平基準（如水平面、液面等），它是以垂直于重力的平面做測量基準（也可用相對水平面做測量基準），光軸基準（如自準直儀、準直望遠鏡的光軸），它是以儀器光軸做為測量基準。
     樓上在沒有講清楚使用何種儀器的情況下，舉例講明，在所謂0～1、1～2、2～3、3～4點.....的測量過程中，我們可以理解為是首尾銜接的“節距法”的測量，（也就是橋板下面兩個接觸點的連線與測量基準絕對或相對水平面、儀器主光軸的傾角變化測量。不存在前一個點是后一個點的測量基準的說法），由此得出“節距法的每個被檢點測量基準不是同一個”的結論，這樣的結論意味著在“節距法”測量同一個截面的過程中，測量基準是在不斷的變化的。此結論往小里說是不對的，往重里講是對測量原理的不了解，也不理解的誤導性錯誤。此錯誤使我聯想到30年前XX規程審定會議上XX專家大談所謂萬能角度尺的測量不符合阿貝原則，我真不明白，角度測量與阿貝原則有什么關系嗎？！
     測量基準在“節距法”測量過程中（同一個測量截面），是否應、會發生變化？這應該屬于基礎性的東西，沒必要在此詳細解釋了，摘錄JJG117規程中的一句話供感興趣的量友思考，“每次移動橋板時，必須首尾銜接。在橋板移動過程中，反射鏡或水平儀與橋板不得有相對位移”。規程中的這段話實際上講明了，在同一個測量截面的測量過程中，小角度測量儀器不得再次對其進行人為不當的調整，正確操作前提下，保證測量基準不會也不應該發生變化。
     另外在平面度整個測量過程中，測量基準不會也不應該發生變化，還可以用方格布線布點（俗稱井字法、王字法等）來解釋，此種布線布點的方式只能使用水平儀類儀器來測量，就是為了保證在整個測量過程中測量基準不發生變化，這點自準直儀類儀器是很難或根本做不到的。
     樓上所謂“操場、馬路、幾樓、山峰.....”通俗化解釋，本人還是認為不夠確切，因為只有在對測量原理性的東西完全理解的基礎上，才能談出確切的通俗化解釋。
     樓上關于“用自準直儀和光靶測量直線度”的觀點（光靶應該是測繪界的術語），本人認為還是對的。但感到不好理解的是為什么到了這里，樓上就認可了在同一個測量截面的測量過程中“測量基準只有一個”，而不是隨測量點的不同而不停的變化了呢？！難道會因小角度測量儀器的不同，又是在“節距法”的前提下，測量基準的變化發生了什么不同嗎？確實有些讓人費解。至于“每個被檢點的讀數都相對于這個基準讀數，如果每個點的讀數都是0，我們完全可以大膽地說，直線度誤差就是0”。我也可以這樣講：如果每個位置的讀數都是不為0的同一個數，在首尾銜接的前提下，我們完全可以理直氣壯地說，直線度誤差就是0。但這些話語與解釋測量原理或者測量基準是否發生了變化，并無實質性的彌補。
     樓上在最后的文字描述中，反復談到“必須將各被檢點的測量基準統一到同一個測量基準上去”，并講明“使基準統一的最有效的方法就是累積法”。這里又冒出了一個所謂的“累積法”，讓人匪夷所思。所謂的“法”實在是太多了，難怪一些初接觸平直度測量的量友會有某些畏難情緒，所謂“累積法”，個人理解就是在原始數據的處理過程中依據兩端點連線評定方法的一種數據處理步驟，為此，對實際上“節距法”測量方法過程中可以講唯一的數據處理公式兩端點連線計算公式用文字做以下展示（不方便用公式表達）：
    被測截面任一點（第i點）對兩端點連線的直線度＝被測截面任一點（1～i點）儀器讀數的累積值－i/n被測截面的末點（1～n）儀器讀數的累積值      注：i為被測截面任一點的序號；n被測截面的末點序號；   累積時（特別是作圖時）應注意不要漏下測量過程中的起始點（0點）。
    估計樓上所謂的“累積法”，就是由于兩端點連線計算公式右邊所謂兩個累積值而來的，實際上這兩個累積值非常好理解，前面的累積值可以理解為被測截面上任一點（第i點）到x軸的縱坐標距離，后面的累積值乘以i/n，可以理解為第i點的坐標轉移量，此轉移量可以很方便的由初等數學中的相似三角形對應邊成比例計算得出。在此提醒樓上，今后在談所謂“方法”時，應盡量說清楚是測量方法，還是評定方法，或者是布線布點的方式及原始數據處理的過程，混為一談很容易把別人（也包括自己）搞暈的。
    至于“以被測截面的直線度誤差折線來替代被測截面的直線度誤差曲線”來解釋“節距法”，我覺得是非常有道理的，因為所謂的“節距法”，就是把被測截面分成了若干段，使用小角度儀器測出每一段（或每一位置）相對于測量基準（水平基準或光軸基準）的傾角變化（也有稱斜率變化），這應該是基礎的該方法測量原理，后面就是依據tgθ≈θ的小角度測量中的近似計算推導出了可以講是唯一的兩端點連線計算公式。近似的程度可以按用被測直線的有限個點來替代被測直線的無數個點，用被測平面的有限條線來替代被測平面的無數條線來解釋，所以折線≈曲線是“節距法”的明顯特點，是通俗易懂的規范化解釋。你的“任何方法測得的結果都是用被測截面的直線度誤差折線來替代被測截面的直線度誤差曲線”的結論應該講是缺乏前提條件的，試問：所謂“干涉法”、“鋼絲繩法”等會符合你“任何方法測得的結果”的折線≈曲線的結論嗎？！所以，探討問題的話語與文字還是應該嚴格、規范為好。

回復 21# 規矩灣錦苑


    此帖應該講相同意見居多，所以沒必要仔細探討。
    在此，僅對“局部決定整體”的說法進行簡單的解釋（整體包含局部的說法應該講不會引起爭議）。
    在文字材料和各個帖子上我對使用小角度測量儀器，以“節距法”的測量直線度的測量原理有過清楚的說明和解釋，相信大部分量友比我理解的還到位，所以沒必要在此浪費大家的時間。正是由于測量方法存有很大的缺陷（平面上絕大部分位置未檢到），加之加工工藝的不足和使用中的局部磨損，所以檢定所得到的平面度應該講并不是被測平面的真實反映，在經過幾十年的爭議、實驗和摸索、借鑒中，我們把平面度人為的分成了整體和局部之說，用局部平面度檢定來彌補上述的不足與缺陷。所以這里出現了“局部決定整體”的說法，應該講是有其深刻道理的，相信廣大量友會接受此說法和檢定項目局部平面度增加的理解。但這些與所謂“代替”無關，屬于無故延伸出來的話題沒必要去探討。
     對于“整體平面度和局部平面度是平板檢定的兩個不同的參數”之說，本人不置可否。因為平面度測量應該是平板檢定中的一個參數，但因為前面提到的原因，人為的分成了整體和局部的表面看好象是兩個平面度，實則是一個，它們是相輔相成，互相包含和決定的東西。
    對于樓上“接觸點檢驗是刮研平板的局部工作面平面度的檢定方法之一，但是決不能代替整體平面度的檢定”。本人持贊成態度。但如果在話的后面再加上一句“同時也決不能代替局部平面度的檢定”，這樣，觀點的確立就更完整也更嚴格了。