GB/T 14115-93半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測(cè)試方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 14115-93
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng) 】 半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測(cè)試方法的基本原理  
【 英文名稱(chēng) 】 General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
【 發(fā)布單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 批準(zhǔn)單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1993-1-21
【 實(shí)施日期 】 1993-8-1
【 開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 13P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 3439; GB 3442
【 起草單位 】 上海元件五廠
【 起 草 人 】 王慶光; 高信齡