GB/T 14031-92 半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理

【 標準編號 】 GB/T 14031-92
【 標準名稱 】 半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理  
【 英文名稱 】 General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
【 發布單位 】 國家技術監督局
【 批準單位 】 國家技術監督局
【 發布日期 】 1992-12-18
【 實施日期 】 1993-8-1
【 開本頁數 】 16P
【 起草單位 】 上海元件五廠
【 起 草 人 】 崔忠勤; 張家昌