GB/T 4377-1996半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 4377-1996
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理  
【 英文名稱 】 Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods of voltage regulator
【 發(fā)布單位 】 國家技術(shù)監(jiān)督局
【 批準(zhǔn)單位 】 國家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1996-7-9
【 實(shí)施日期 】 1997-1-1
【 開本頁數(shù) 】 19P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 4377-84
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 3431.1
【 起草單位 】 北京半導(dǎo)體器件五廠
【 起 草 人 】 張寶華; 李龍文; 沈琪