GB/T 14863-1993 用柵控和非柵控二極管的電壓-電容關系……

【 標準編號 】 GB/T 14863-93
【 標準名稱 】 用柵控和非柵控二極管的電壓-電容關系測定硅外延層中凈載流子濃度的標準方法  
【 英文名稱 】 Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
【 發布單位 】 國家技術監督局
【 批準單位 】 國家技術監督局
【 發布日期 】 1993-12-30
【 實施日期 】 1994-10-1
【 所屬標準 】 GB
【 開本頁數 】 12P
【 引用標準 】 SJ 1550
【 起草單位 】 機械電子工業部46所; 機械電子工業部4所
【 起 草 人 】 孫毅之; 張若愚; 謝重木; 韓艷芬