GB/T 17722-1999金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 17722-1999
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法  
【 英文名稱 】 Gold-plated thickness measurement by SEM
【 發(fā)布單位 】 國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
【 批準(zhǔn)單位 】 國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1999-4-11
【 實(shí)施日期 】 1999-12-1
【 開本頁數(shù) 】 6P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 12334-1990; GB/T 13298-1991; GB/T 15616-1991; GB/T 16594-1996; GB/T 17362-1998; GB/T 17363-1998
【 起草單位 】 中國科學(xué)院北京科儀研制中心; 地礦部礦床地質(zhì)研究所; 北京科技大學(xué)材料物理系; 上海市測試技術(shù)研究院; 中船總725所
【 起 草 人 】 陸亞偉; 周劍雄; 柳得櫓; 張訓(xùn)彪; 徐國照