千分尺平行度的檢定及故障分析和修理

千分尺平行度的檢定及故障分析和修理

論文說“測量上限大于150毫米的千分尺，用平行平晶、量塊組合檢定效率低、準確度不高，故應用專用檢具”請問各位專家：為什么準確度不高？

回復 3# 老是

　　JJG21-2008的6.3.13條規定：“測量上限至100mm千分尺兩測量面的平行度用4塊厚度差1/4測微螺桿螺距的平行平晶檢定。也可用量塊檢定，……測量上限大于100mm千分尺兩測量面的平行度用圖10鋼球檢具檢定。”
　　可見論文作者提出測量上限大于150毫米的千分尺兩測量面平行度不要用平行平晶、量塊組合檢定，而要用專用檢具檢定，檢定規程的這一條就是他的根據。
　　我國平行平晶的規格有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四個系列，長度分別為15mm、40mm、65mm、90mm，平行度允差分別是0.6μm、0.6μm、0.8μm、1.0μm。
　　由此可見使用平行平晶檢定測量上限大于100mm的千分尺平行度，必須使用兩個系列以上的平行平晶進行組合。組合時，兩個（或兩個以上）平行平晶各自的平行度勢必共同對千分尺平行度檢測結果產生影響，這是其一。
　　第二，平行平晶直徑小而長度長，重量相對較重，且平晶檢定規程對其研合性并無要求，當兩個（或兩個以上）平行平晶研合時研合力很難保證，研合效果并不穩固。用研合并不穩固的平行平晶檢定千分尺平行性，平行平晶研合面之間極易產生分離間隙，嚴重影響平行性檢測結果。
　　所以，論文作者說用平行平晶組合檢定千分尺兩工作面平行性“效率低、準確度不高”是有道理的。

回復 4# 規矩灣錦苑


    嗨，高人吶！

“測量上限大于150毫米的千分尺，用平行平晶、量塊組合檢定。”可行嗎？可操作嗎？準確度高嗎？

太需要了，最近一直磨不好千分尺了

i學習一下，謝謝

大于150，千分尺兩個側貼距離長，按照規程要求，其平行度的要求也在降低，如果在500以下，是可以用量塊來檢測的，超過500使用專用量具檢測。

非常實用，有個問題請教一下，在用量塊檢定平行度時，所用量塊尺寸小數部分相差0.125mm，整數部分是不是要相同，例如5.12  5.24    5.36   5.00。這樣是不是更合理。

我下載完了，看不到，說是解壓失敗。

我們計量室連平面平晶都沒有，無法檢定學習，而且我們計量室外徑千分尺這塊使用基本都是拿來對內徑百分表，很少用來直接測量物體。很想學習下，但又沒這個條件。

學習了，各行都有高手啊

我目前見過最大的千分尺是3m的

規矩灣錦苑 發表于 2013-5-1 22:38
回復 3# 老是

　　JJG21-2008的6.3.13條規定：“測量上限至100mm千分尺兩測量面的平行度用4塊厚度差1/4測 ...

您說數顯外徑千分尺兩測量面的平行度適宜用平行平晶檢定么？平行平晶Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四個系列的平行度允差分別是0.6μm、0.6μm、0.8μm、1.0μm，外徑千分尺測量面的平行度允許值對應的分別是2μm、2μm、3μm、3μm，沒有問題。但數顯外徑千分尺測量面的平行度允許值對應的分別是1.5μm、1.5μm、2μm、2μm，還能滿足測量要求么？還是用量塊更適宜些？

長度室 發表于 2015-1-19 09:32
您說數顯外徑千分尺兩測量面的平行度適宜用平行平晶檢定么？平行平晶Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四個系列的平行度允差 ...

　　國家尚無平行度量值溯源系統或檢定系統，形位誤差中只有平面度計量器具檢定系統，參照這個檢定系統圖可以看出，上下級的量傳允差比例要求基本上為2：1，現在1.5μm、1.5μm、2μm、2μm分別與0.6μm、0.6μm、0.8μm、1.0μm的比均≥2：1，這種檢測方法應該是滿足測量要求的。當然，你說用量塊檢也是可以的，雖然量塊的平行度允差會比平行平晶更小，但這種檢定方法的平行度誤差需要在千分尺上讀出，千分尺的分辨力引入的不確定度分量也需要合成進去，合成后的不確定度也還是與平行平晶檢測方法差不多。

規矩灣錦苑 發表于 2015-1-19 11:55
　　國家尚無平行度量值溯源系統或檢定系統，形位誤差中只有平面度計量器具檢定系統，參照這個檢定系統圖 ...

有道理，謝謝！

xuxinhaoxue 發表于 2013-6-14 18:17
非常實用，有個問題請教一下，在用量塊檢定平行度時，所用量塊尺寸小數部分相差0.125mm，整數部分是不是要 ...

老師我看規程也是這么理解，您最后得到論證了嗎？這樣是對的嗎？