JB/T 10534-2005多層鎳鍍層 各層厚度和電化學(xué)電位同步測定法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號 】 JB/T 10534-2005
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 多層鎳鍍層 各層厚度和電化學(xué)電位同步測定法  
【 英文名稱 】 Standard test method for simultaneous thickness and electrochemical potential determination of individual layers multilayer nickel deposit
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國國家發(fā)展和改革委員會
【 發(fā)布日期 】 2005-9-23
【 實(shí)施日期 】 2006-2-1
【 開本頁數(shù) 】 10P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 4955; GB/T 6682-1992
【 采用關(guān)系 】 IDT ASTM B764-1994
【 起草單位 】 武漢材料保護(hù)研究所
【 起 草 人 】 喻暉; 馮永春; 任星海; 曹鐘樑; 賈建新