平晶操作程序

平晶操作程序

1.目的：查明和確認平晶的技術狀態是否符合國家計量檢定規程的規定要求。
2.適用范圍：適用于開展對平面平晶、平行平晶的檢定。
3.依據文件：JJG28-2000，平晶檢定規程。
4.檢定所使用的計量標準：2等標準平晶。其中主要檢定工具包括光學計、測長機、平面等厚干涉儀。
5.檢定時的環境要求：溫度20±5℃和濕度不大于80%RH（平面平晶）、溫度20±3℃和濕度不大于80%RH（平行平晶）的檢定室內進行。
6.檢定前的準備工作：
6.1查看標準器及主要配套設備管理標志（合格證）是否在有效期內，如不在有效期內則一律不準使用，應及時與技術科聯系，查明原因。
6.2查看檢定室內溫度、濕度是否滿足檢定規程的要求，如不滿足，應使用空調器調節檢定地點溫度，使其滿足要求。
6.3用干凈白布將被檢平晶表面擦凈。
6.4被檢平晶放置在檢定室內，等溫的時間應不少于10h。
6.5準備好檢定工具，原始記錄表格（原始記錄表格樣式見附錄）。
7檢定步驟：
7.1外觀及表面質量：
根據規程要求，借助放大鏡目力觀察。
7.2外形尺寸：
平行平晶中心長度尺寸用測長機直接檢定。其他外形尺寸用游標卡尺進行檢定。
7.3兩端面夾角：
平面平晶兩端面夾角用1級百分表檢定。
7.4工作面與母線垂直度：
用分度值不大于5′角度規進行檢定。
7.5非工作面平面度：
平面平晶采用不小于被檢平面平晶直徑的2級平晶檢定。
7.6兩工作面的平行度：
用光學計進行檢定。
7.7工作面的平面度：
用平面等厚干涉儀與2等標準平晶比較檢定。
8.檢定結果的處理：
經檢定符合本規程要求的平晶，出具檢定證書。不符合本規程要求的平晶發檢定不合格通知書，并注明不合格項目。
9.檢定周期：
工作平晶根據使用情況確定檢定周期，最長不超過一年。
10．檢定操作結束的處理：
10.1將標準放入盒內，其他配套設備放歸原存放處。
10.2填寫《計量標準器使用記錄》。
10.3清理工作場所。
10.4平晶的檢定周期為一年，必要時，根據實際情況可提前檢定。
10.5原始記錄的填寫執行程序文件《原始記錄和數據處理程序》
10.6檢定證書或檢定結果通知書的填寫執行程序文件《結果報告程序》
附錄《平晶檢定記錄表》

回復 1# duomeiti


    LZ上傳的平晶檢定操作程序，作為應付檢查的文件，單講格式應該還是可以的，估計一般檢查人員也提不出什么異議，但作為嚴格的技術文件在某些方面應該是有缺陷的，當然這也與規程的某些規定有關：
    比如講操作程序5.規定的檢定時的環境要求“溫度20±5℃和濕度不大于80%RH（平面平晶）、溫度20±3℃和濕度不大于80%RH（平行平晶）的檢定室內進行”，上述文字描述應該講是照搬規程的內容，檢定室內的溫度為“20±5℃或20±3℃”，雖然感覺檢定室內的溫度有些偏高，但講不出什么異議，畢竟我們沒有做過這方面的試驗；但“濕度不大于80%RH”應該不妥的，因為長度實驗室的相對濕度如果達到80％，作為相當多的積光、機、電一體的幾何量計量儀器會出問題的，所以個人認為平晶檢定操作程序和規程對檢定時的環境要求規定是欠妥的。
    我們知道，平晶檢定裝置標準在一般單位或部門，包括許多省級法定計量技術機構，應該是平面度量傳的最高計量標準。由于被檢平晶的材質是光學玻璃，其導熱性能比較差，為了防止被檢平晶由于溫度梯度的存在影響平面度的檢定，所以規程JJG28-2000對被檢平晶的等溫要求是相當嚴格的，并在規程的表8、表9中給出了明確的要求：比如講被檢平晶在實驗室的等溫時間根據其規格或用途不同，等溫時間為（10～35）h；被檢平晶在儀器內等溫時間為（0.5～2）h；被檢平晶在儀器內24h溫度變化為（1～2.5）h；被檢平晶在儀器內每1h溫度變化為（0.1～0.5）h，由這些嚴格的要求可以看出，實際上，許多靠家用空調控制溫度的單位、部門的實驗室是無法或很難保證上述檢定時環境溫度要求的。非常遺憾，上述這些在操作程序中均沒有涉及，所以應該講操作程序是不夠完整的，當然還是前面講過的東西，在規程規定的環境要求合理性得以確認前，責任不完全在LZ。
   還沒有看到平晶新修改編制的規程，或許新的規程在經大量環境溫度、濕度試驗后，會對檢定時的環境要求有所改動。那時，單位或部門的操作程序會根據新規程做相應的較完整的改動，這也是檢定工作的需要。

用平面平晶檢定外徑千分尺時，如何看到光波啊？

很好。
學習學習
貌似稍顯得簡單，還可以再豐富點。