分光光度計中的非自動掃描儀器波長最大允許誤差檢定

分光光度計中的非自動掃描儀器波長最大允許誤差檢定，選擇濾光片標準物質，在檢定點附近單向逐點測出標準物質的透射比，采樣間隔應該設置0.2nm,0.5nm還是1nm即快速又不影響測量誤差，大家有什么好想法。

如果是數顯設定式的，可以先在檢定點先測一次，再附近單向逐點測出標準物質的透射比，如果儀器本身是III級，最好是選擇間隔0.2nm，如果是IV級，可以選擇間隔0.5nm，如果儀器是比較老式的旋鈕指針型，分度值為2nm，就只能選擇間隔1nm測了。

對儀器沒有標注分光光度計等級的按III級還是IV級。