本帖最后由 史錦順 于 2021-1-7 10:43 編輯
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準確度認定不需要“分布”與“相關性”
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史錦順
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【clsn論述】
一個簡單的例子,一臺高穩晶振,檢定結果日老化率+1E-10,相關系數0.99,給出檢定結果頻率準確度1E-9,關機時校準到-5E-10,按絕對和最大值就絕對可靠了嗎?不一定,按老化規律,用戶使用時半個月后就漂出1E-9了,用戶使用半個月后就真的漂出1E-9了嗎,也不一定,所以,用戶使用時頻率相對偏差到底在什么地方,脫離計量標準后,不得而知,按概率分布估計可能相對更科學些
【史辯】
你舉出的例子,是時頻界的一個大問題,存在已久。解決,只能按誤差理論;不確定度體系的一套,處理不了實際問題。而“分布”“相關性”,都是誤導。
測量計量領域的通常的儀器性能指標給法,是準確度。準確度一詞,通俗、確切,應用已久。1993年不確定度體系出世以來,為了給自身的立足辯護,攻擊誤差理論說“準確度是定性的,不能給出具體數值”。這是對誤差理論的誣陷,是現代版的指鹿為馬。本欄目最近刊出的《美國計量教程》,多次指出“準確度”是基本性能指標。可見一些美國人也在反思。我們中國人不必拘泥于炮制不確定度體系的那幾個美國人的錯誤說教,要理直氣壯地稱說定量的“準確度”。我下面就用準確度一詞。
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測量計量界的儀器與計量標準,通常給出的指標都是準確度(我說的是沒有或不受不確定度體系干擾的情況,下同。為回避不確定度體系的戒規,現在稱最大允許誤差MPEV)。這是總指標,又稱綜合指標,方便于生產、計量、應用測量。
有些特例,不便于給出總指標,就給出分項指標。各項在不同應用中作用不同,總指標反而不便于應用。例如:波導測量線、同軸測量線(英美稱開槽線)。又叫駐波測量器。
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寫到這,想起一件往事。五十六年前的事,最近被炒作。權當趣聞,供大家一笑。
我于1963年到國家計量院,分在無線電處駐波組(又稱微波阻抗組)。剛剛參加工作幾個月,主要在查資料,卻接到一項任務,協助組長竺玄(后來官至中國科學院的局長)編寫微波阻抗計量資料,以供1964年的全國無線電計量會議參考。
最近偶爾在孔夫子舊書網上看到如下廣告:
微波阻抗駐波計量 [油印]
作者: 史錦順
出版社: 國家科委計量局
出版時間: 1964-03
售價¥89.00 品相八五品
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對如上廣告,史錦順說明如下:
1 原署名是 竺玄 史錦順;史錦順是編者之一,排名在后,不能寫成“作者: 史錦順”。稱不上是作者,因為僅僅是資料匯編。
2 時過境遷,此資料已無用。且幾乎沒有筆者的觀點,沒有保存的價值。
3 誰也別買。
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網上見到的計量文物出售廣告,有錢鐘泰先生的1993年前代表國家計量院就《GUM》向國際計量委員會提出反對意見的原稿——定價10元。當時只顧笑話錢先生太看輕自己。沒有及時搶購。第二天,再查,廣告卻不見了。如此重要的文物,千元也值。
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話回原題。我對測量線做過專門研究,澄清了國外傳過來的多種計算公式。用實驗的方法,主要是外推法,否定了一些公式,肯定了一些公式,寫進當時的《測量線檢定規程(草案)》中,并發表了論文《測量線檢定與誤差公式的實驗鑒別》(《無線電技術》1976年第10期)。1973年我離開計量院,這些公式被李湘等編入正規的《測量線檢定規程》中。全是函數關系,公式計算,不用任何“分布”以及“相關性”。測量較小駐波系數,只需兩項誤差(固有反射、不平度)相加(絕對和)。這既是經典誤差理論的要求,也符合新近的《史法測量計量學》的誤差合成規則。兩項系統誤差合成,取絕對和,是必要的。既不需要“分布”也不需要“相關性”。
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晶振的指標給法,與測量線類似,也是分項指標。我曾對此很反感。因為分項指標檢定與應用都麻煩,應用者也難形成關于“準確度”的直觀認識。1986年計量學會時頻專業委員會在昆明開學術會議。游石林時我對馬鳳鳴說:銫頻標、氫頻標、銣頻標,都有準確度指標,計量、應用、稱說都方便;而較低的頻標晶振以及大量的以晶振為內標的頻率計,卻沒有準確度指標,真討厭。我若是當電子工業部長,就下令全國:凡不給出準確度指標的晶振、頻率計一律不準許生產。馬鳳鳴笑著對我說:老弟雄心可嘉;我看你一輩子也當不上部長。當部長也不見得該下這種命令。作法是自然形成的,總指標有總指標的優點,但分項指標更能細致地表明某些特性。馬先生的話不無道理,但我的具體業務工作,又不得不按大致的總指標分類,才好處理。我負責管理的近二百臺數字頻率計,每年都要檢定一次,測量其晶振的老化率太費時間,只好大體規定兩類。年檢時測量三天(三次開機),一般的數字頻率計,達到10-6,就算合格;較高檔次的達到10-7,就算合格。這些頻率計只供研制人員試驗中用,不許對外給出數據。而一切出所產品的性能,要由測頻組測量認定。測頻組有各種精密測量設備,且隨時可以旁證準確度(以銫頻標與頻率綜合器為基礎)。
現在進行本題的具體計算:通常的情況下,晶振要作為獨立的頻標應用,該怎樣確定其準確度。這里的計算說明:既不需要“假設分布”,也不需要“認定相關性”。
已知條件
1 老化率+1×10-10(實測)
2 溫度等環境影響5×10-10(拉偏實驗)
3 開機復現性 (各次開機有隨機性,就一次開機的時域統計來說,是系統誤差)三次開機,預熱1小時后,頻率間偏差最大值5×10-10
4 短期穩定度(秒穩) 3σ=3×10-10
檢定晶振時設置的頻差(為老化預留空間)-5×10-10
首次計量,1、2、3、4各項要實際測量。后續計量可用實際頻率偏差(準確度)測量,簡化代替。
【準確度(誤差范圍)】:
(1)1個月
R1 老化影響:+1×10-10×30=+3×10-9扣除預置值為+2.5×10-9
R2 溫度等環境影響:5×10-10
R3 開機復現性:5×10-10
R4 短穩: 3σ=3×10-10
R1、R2、R3是系統誤差,取絕對和,再與R4(隨機誤差)取方和根。
R1月 =√[(R1+R2+R3)2 + R42]
=√(3.52+0.32)×10-9
≈3.5×10-9
計算中可知,短穩可略,以下計算略去此項。
(2)3個月
R1 老化影響:+1×10-10×90=+9×10-9扣除預置值為+8.5×10-9
R2 溫度等環境影響:5×10-10
R3 開機復現性:5×10-10
R3個月=R1+R2+R3
=9.5×10-9
≈1.0×10-8
(3)6個月
R1 老化影響:+1×10-10×180=+1.8×10-8(預置值可略)
R2 溫度等環境影響:5×10-10
R3 開機復現性:5×10-10
R6個月=R1+R2+R3
=1.9×10-8
≈2×10-8
(4)9個月
R1 老化影響:+1×10-10×270=+2.7×10-8(預置值可略)
R2 溫度等環境影響:5×10-10
R3 開機復現性:5×10-10
R9個月=R1+R2+R3
=2.8×10-8
≈3×10-8
(5)1年
R1 老化影響:+1×10-10×365=+3.7×10-8(預置值可略)
R2 溫度等環境影響:5×10-10
R3 開機復現性:5×10-10
R1年=R1+R2+R3
=3.8×10-8
≈4×10-8
近來見到福祿克的數字電壓表的指標給法是分時段的。晶振以及以晶振為基礎的數字式頻率計,性能指標比數字電壓表對時間的依賴更強,也應分時段給出性能指標。
作為獨立頻標的晶振,頻率線性漂移(老化率)影響嚴重。切型好的優質晶體、較好的雙層恒溫,日老化率優于1×10-11。一年周期,也只有4×10-9的準確度。因此,宜用鎖頻方式。好在現在有北斗系統、有互聯網,晶體頻標的準確度是易于保證的。
在如上的誤差分析與合成計算中,用不到“分布假設”,不需要“相關性認定”,不確定度體系造成的麻煩一風吹,豈不快哉!評定不確定度,麻煩而又沒道理。要它作甚。不確定度,見鬼去吧!
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【附錄】晶振頻率偏差的分布
由于頻率測量的分辨力、精密度、準確度都極高,所以研究普通晶振的偏差的分布是非常方便的。注意,頻率測量的誤差可略,各個頻率值都是實際值。這是統計測量。真正的研究,是實際測量基礎上的分析;任何“假設”、“估計”都是歪路,且久而久之,形成思想方法上的誤導。值得人們警惕。
測量方式有兩種,統計方式也就必然分兩種。兩種測量方式的區分,是網友國家計量院的崔偉群先生首先提出的。他指出:第一種測量方式是用一臺儀器進行多次重復測量;第二種是用多臺儀器同時測量同一被測量。史錦順認為此觀點極為重要,這是統計方式的前提問題。不注意,就出大錯。
第一種測量方式,是測量計量的基本方式。表類儀器,就是用此儀器多次(不低于20次)測量同一物理量。測量N次,有N個測量值,測量值按時刻騙號。量值依時刻而變化,變化特性是在時間領域中展現的,因此稱“時域統計”。時域統計方式是測量計量的基本統計方式。舉凡出廠檢驗、買方驗收、計量、應用測量,都是用一臺儀器進行多次重復測量,因而都是時域統計。對源類儀器,是對一臺儀器進行多次重復測量。
第二種測量方式是用多臺儀器對同一物理量同時進行測量。測量值按儀器編號,測量值的不同體現儀器各臺間的不同。這可稱“臺域統計”。在生產廠,可能有此類測量,以研究合格率等。但很少見。儀器一經出廠,已分散于天南地北,不可能再有“臺域統計”。且臺域統計是群體特性,解決不了個體的性能問題。用群體特性來估計單體的量值,太粗糙了;實際上是除以一個值,再乘以一個更大的值,反而比初始值更大了——,區間大了,包含概率卻小了,實乃賠了夫人又折兵。卻未解決任何問題。
必須明確:測量計量領域的基本情況是用一臺儀器多次測量同一被測量,統計方式是“時域統計”。誤差理論中講的統計都是“時域統計”。
不確定度體系問世以來,用錯了統計方式。隨機誤差以外,所謂的各種分布,都是“臺域統計”的分布。例如所謂“均勻分布”,只能是多臺儀器進行同時測量時才有可能出現。一項系統誤差,各臺不一樣,有大有小。大小誤差在各臺間出現的機會相近,大體按臺均勻分布,是可能的。“系統誤差均勻分布”,僅能出現在“臺域統計”的方式中。而前提條件是用多臺儀器測量同一物理量。這種情況,在計量測量(研制的個別情況除外)中,是不存在的。
用一臺儀器進行重復測量,10分鐘測量20次,系統誤差是不變化的,不可能出現系統誤差是大小均勻的情況。一項系統誤差,第一次測量是0.1,第二次是0.2,第三次是0.3……玩去吧,沒有這種情況。系統誤差就是在統計測量中不變的誤差(即使有變也在10%以內)。有人說系統誤差是均勻分布,那就是時大時小(從0.1變到0.9),且大小幾率相等,那是胡說。——是把“時域統計”誤當成“臺域統計”了。統計方式錯了,不確定度體系的一切“分布假設”也就全是假的。全錯了!
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第一種統計方式是時域統計。晶振是頻率源。對一臺晶振的頻率進行重復測量。測量100次。按測量的時刻順序編號為f1、f2、f3……f99、f100。
測量計量的統計,是對晶振頻率的時域統計。對一臺晶振頻率測量100次,稱為1組,頻率分布圖如圖1,是有偏正態分布。鐘形線表明隨機偏差,鐘形線中點到標準值(因為用原子頻標,標準的誤差可略)的差值就是系統誤差。
每組測量100次。測量10組。頻率分布圖是很穩定的(大體如如下10張示意圖)。都是相同的“有偏正態分布”。根本就不可能有“均勻分布”。不確定度體系的分布假定錯了,由此而估計量值,那就沒有一點價值了。
不確定度體系誤事。相信不確定度是迷信。迷信就談不上科學了。-
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2021-1-7 09:56 上傳
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(全文完)
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