平晶檢定時(shí)干涉條紋的快速調(diào)整方法與平面度計(jì)算

宮美望[1] 劉文君[2]

[1]青島市計(jì)量測(cè)試所,山東青島266071
[2]青島市水利勘測(cè)設(shè)計(jì)院有限公司,山東青島266023

摘　要:在平面等厚干涉儀上檢定平晶工作面平面度時(shí)，需要在被檢區(qū)域調(diào)整出3到5條干涉條紋，依據(jù)測(cè)量原理和計(jì)算公式求出被檢平晶工作面的平面度。文章重點(diǎn)分析干涉條紋的快速調(diào)整方法與標(biāo)準(zhǔn)平晶平面度的正確引用方法。[著者文摘]

Quick-adjusting Method of Interference Fringes and Flatness Calculation of Optical Flat Working SurfaceGONG Mei-wang, LIU Wen-jun 1. Qingdao Institute of Measurement and Testing , Qingdao 266071, China; 2. Qingdao Water Conservancy Survey Design Institute Limited Company, Qingdao 266023, ChinaAbstract:Flatness of optical flat working surface was verified by use of plane equal-thickness interferometer. In verification, 3 to 5 interference fringes must be adjusted in measured area, then flatness of optical flat working surface was calcuylated based on measuring principle and foroula. Quick adjusting method of interference fringes and correct quotation method of standard optical flat flatness are analyzed.[著者文摘]

Key words:equal-thickness interference; interference fringe; adjusting method; flatness; calculation

看了上傳的《平晶檢定時(shí)干涉條紋的快速調(diào)整方法與平面度計(jì)算》一文，感覺作者還是下了一定功夫的。現(xiàn)對(duì)文章中關(guān)于平晶檢定得出的平面度結(jié)果“符合最小條件原則”的說辭，以及標(biāo)準(zhǔn)平晶F96平面度的計(jì)算問題，暫時(shí)先不去評(píng)論。僅針對(duì)文章中“被檢區(qū)域出現(xiàn)3到5條干涉條紋”的說法，“咬文嚼字”的談一點(diǎn)個(gè)人看法：
     在平面等厚干涉儀上檢定工作平晶平面度時(shí)，文章中談到調(diào)整后平面等厚干涉儀的視場(chǎng)中“出現(xiàn)3到5條干涉條紋”，這“3到5條”極易讓人從字面上理解為3至5條、3～5條，也就是講在3、5數(shù)字之間還有4，這與規(guī)程JJG 28—2000的文字描述是有字面及內(nèi)容上的較大不同的，規(guī)程中對(duì)被檢區(qū)域出現(xiàn)的干涉條紋是這樣描述的“3或5”，也就是從字面上理解只能為整數(shù)3或者5，肯定不包括整數(shù)4。被檢平晶的干涉條紋只能為奇數(shù)3或5，其道理非常好理解，也就是保證干涉條紋間距成像基本清晰，便于平面等厚干涉儀指標(biāo)線瞄準(zhǔn)讀數(shù)的基礎(chǔ)上，保證中間的干涉條紋通過被檢平晶的最大直徑上。
     道理不必細(xì)談了，“咬文嚼字”是為了測(cè)量原理及方法的正確無誤，所以文字描述必須嚴(yán)謹(jǐn)。

有道理，學(xué)習(xí)了

有道理，值得借鑒