天線高度引起的EMC測試結(jié)果不確定度分析

天線高度引起的EMC測試結(jié)果不確定度分析
  
[摘要]  
本文以點(diǎn)輻射源為例,詳細(xì)分析了在半電波暗室內(nèi)進(jìn)行電磁騷擾輻射發(fā)射測試時(shí),由于接收天線高度的不準(zhǔn)確性帶來的測試結(jié)果的不確定度.結(jié)果說明該不確定度來源于半電波暗室的固有缺陷.另外,本文還對于實(shí)際測試中需要注意的方面給出了建議.
[關(guān)鍵詞]  
不確定度,電磁輻射,接收天線,天線高度,發(fā)射騷擾測試  
[作者]  
譚海峰, 北方交通大學(xué); 劉萍, 北方交通大學(xué); 沙斐, 北方交通大學(xué)
[會(huì)議名稱]  
2002年全國電子測控工程學(xué)術(shù)年會(huì)  
[會(huì)議時(shí)間]  
20021013
[會(huì)議地點(diǎn)]  
武夷山
[主辦單位]  
中國電子學(xué)會(huì)%中國儀器儀表學(xué)會(huì)  
[會(huì)議分類]  
無線電電子學(xué)、電信技術(shù)
自動(dòng)化技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)


[母體文獻(xiàn)]  
電子測量與儀器學(xué)報(bào) 2002增刊  
[出版單位]  
中國電子學(xué)會(huì)  
[出版地]  
北京  
[出版時(shí)間]  
20021001  
[頁碼]  
812-817
[注釋項(xiàng)]  

[分類]  
無線電電子學(xué)、電信技術(shù)
自動(dòng)化技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)


[密級]  

[館藏號]  
H047236