檢定電感測微儀示值誤差

小弟有個關于電感測微儀示值誤差的問題，望大家給予答疑解惑。

檢定規程上規定數顯式電感測微儀示值誤差不能超過下面的這個公式:δi=±0.3%(|Si|+l)

Si---受檢點的標稱值

l---檢定時所用的量程

我對這個公式不太理解，Si標稱值是什么意思（一個什么值），如果檢定0～±100量程時，l就取100，那么計算示值誤差時Si該取什么值。

　　1.量程是測量范圍內的最大值與最小值之差。如果檢定0～±100測量范圍時，量程l=(+100)－(-100)＝200μm。
　　2.Si是受檢點的標稱值。如果檢定0～±100測量范圍時，根據檢定規程的表3，受檢點分別是±20μm、±40μm、±60μm、±80μm、±100μm，共10個受檢點。
　　3.例如：
　　如果受檢點標稱值是Si＝+40μm，代入公式：δi=±0.3%(|＋40|+200)=±0.7μm；
　　如果受檢點標稱值是Si＝-100μm，代入公式：δi=±0.3%(|-100|+200)=±0.9μm。

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    謝謝。