請教：用平面平晶檢千分尺的平面度，怎么判斷是否合格？

如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)

1. 因為實際操作的時候，也不方便測v及ω，那么怎么能得到誤差值呢？

2. 平晶放在測量面上時，是緊貼好，還是有點傾斜的好，我操作起來，是一會有條紋，一會沒有，條紋也是一會多、窄，一會少、寬。總覺得操作上不得要領。應該怎么操作是正確的呢？？在什么現象認為條紋可以應用呢？？

回復 1# 藍豬


    1.  精確計量應該用單色光照明，并測量條紋參數；
    2.  應該是貼緊、平行為好！

回復 2# 星空漫步
條紋參數怎么測得呢？？

用平面平晶測量千分尺測量面的平面度，目測即可。干涉條紋的彎曲度與條紋間距的比值是可以估讀出來的，目測不能讀出精確的值，是一個大概的值。觀測時要調整平晶與千分尺工作面的位置，盡量使干涉條紋條數少，以利于讀數。

如果不把測砧拆下來，還真是只能目測個大概值。

還是要學習，很多東西都沒看懂!

知道了，謝謝前輩們。

感覺樓主和我剛剛用平晶是一樣滴 當時我師傅給我找了一塊廢量塊 讓我反復在平晶上面研和 慢慢的就能研出穩定的干涉條紋了 還是要多練習
那個條紋我們一般是用眼睛估計一下的

注意事項：
1.被測表面和平晶工作面要嚴格擦拭干凈；
2.以單色光最好，日常測量中用自然光也可以。單色光干涉條紋是黑白相間，自然光干涉條紋是彩色的；
3.測量時，平晶工作面靠近被測表面某條邊，逐漸向對邊方向壓下貼攏，注意干涉帶條文變化，平晶上以出現3條干涉帶時讀數為佳；
4.干涉帶中間遠離一開始平晶與被測表面接觸的邊線，被測表面呈中間凸，反之被測表面中間凹；
5.憑眼力估讀V和W，按計算公式計算被測表面平面度誤差大小，出現完整的干涉環，應該數干涉環的環數，V/W以環數代入公式計算平面度誤差。

用平面平晶測量千分尺測量面的平面度，目測即可。干涉條紋的彎曲度與條紋間距的比值是可以估讀出來的，目測不能讀出精確的值，是一個大概的值。觀測時要調整平晶與千分尺工作面的位置，盡量使干涉條紋條數少，以利于讀數

回復 12# hblgs2004

　　檢測千分尺平面度有10條以上的均勻平直的干涉條紋時，因為干涉條紋過多不利于肉眼的分辨，輕微的干涉條紋彎曲無法識別。此時應調整平晶與被檢工作面的接觸狀態，減少干涉條紋數量，以出現3條左右干涉條紋時估讀條紋彎曲量與條紋間距的比值為最佳，如果仍然表現為干涉條紋呈相互平行的直線，就應該判定被檢工作面平面度誤差為0。

回復 1# 藍豬


    1.  用光波干涉法測平面度時，必須估讀你談及的v及ω（v為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間的間距），否則你無法代入你談及的計算公式f= (v/ω)×(λ/2) ，以計算得出被測面的平面度；

    2.  平晶放在被測量面上時，應使平晶工作面與被測量面間有一個楔角，這樣就不會出現你談及的“是一會有條紋，一會沒有，條紋也是一會多、窄，一會少、寬”了。另外，此測量過程的時間不宜過長，否則，手溫對平晶的影響是很大的（必須戴手套），另外在測量時，盡量避免平晶在被測平面上反復接觸移動，以免劃傷平晶工作面。

   3.  某位帖子中所談及的“以出現3條左右干涉條紋時估讀條紋彎曲量與條紋間距的比值為最佳”，這是明顯錯誤的說辭。這瞎講一氣的“左右”，必然包括了2條或4條，而正確的干涉條紋數量應為“3或5條”，也就是只能為3條或者5條（奇數），不可以有4條（不能描述為3～5條，或2條），以保證中間干涉條紋通過被測平面的最大直徑，所以，測量過程的文字描述是非常嚴謹的，容不得某些人的信口開河。

   4.   被測平面平面度的凹凸評定，11樓談論的是正確的，你可以慢慢理解、體會。

        個人看法，僅供參考。

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敲敲打打 發表于 2014-6-21 19:23
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請問一下這本是什么書名？，能否分享一下這張清晰圖片，圖片不清晰