一種測量光學(xué)玻璃應(yīng)力的光譜方法

姚文卿[1] 董良威[1] 鄔華芝[2]
[1]常州工學(xué)院電子信息與電氣工程學(xué)院,江蘇常州213002 [2]常州工學(xué)院光電工程學(xué)院,江蘇常州213002
摘　要:光學(xué)玻璃的應(yīng)力使其出現(xiàn)雙折射性質(zhì),嚴(yán)重影響成像質(zhì)量和導(dǎo)致波面形變,因此需要進(jìn)行精確定量的測量。為了滿足高精度玻璃應(yīng)力測量的需求,文章提出了一種測量應(yīng)力的新方法：在光譜掃描法測量系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,加入半波片作為延遲量基準(zhǔn),根據(jù)插入被測玻璃前后延遲量的變化,精確、定量地得到被測玻璃的應(yīng)力。實驗測量了1塊立方體玻璃不同區(qū)域的應(yīng)力。分析表明,光譜掃描精度為0.25nm時,系統(tǒng)測量誤差小于0.4nm。[著者文摘]

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