一種測量光學玻璃應力的光譜方法

姚文卿[1] 董良威[1] 鄔華芝[2]
[1]常州工學院電子信息與電氣工程學院,江蘇常州213002 [2]常州工學院光電工程學院,江蘇常州213002
摘　要:光學玻璃的應力使其出現雙折射性質,嚴重影響成像質量和導致波面形變,因此需要進行精確定量的測量。為了滿足高精度玻璃應力測量的需求,文章提出了一種測量應力的新方法：在光譜掃描法測量系統的基礎上,加入半波片作為延遲量基準,根據插入被測玻璃前后延遲量的變化,精確、定量地得到被測玻璃的應力。實驗測量了1塊立方體玻璃不同區域的應力。分析表明,光譜掃描精度為0.25nm時,系統測量誤差小于0.4nm。[著者文摘]

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