今天遇到的1810光譜掃描的怪現(xiàn)象

今天在一個(gè)單位檢測(cè)北京普析公司生產(chǎn)的一臺(tái)1810型紫外可見分光光度計(jì)，在進(jìn)行光譜掃描的時(shí)候，出現(xiàn)了一些情況。掃描的條件設(shè)置如下：范圍810~400nm,掃描間隔0.5nm，中速，在掃描到600多nm及以后的時(shí)候，出現(xiàn)一系列緊密排列的十分高的吸收峰，高的可以到達(dá)20多abs，同樣的情況發(fā)生在掃描范圍700~230nm的條件下（其他掃描條件沒變）。但是，當(dāng)把掃描范圍設(shè)置為400~230nm以及810~400nm進(jìn)行掃描時(shí)（間隔及掃描速度等條件同上，均未變），一切正常。
     但是在檢測(cè)該公司生產(chǎn)的紫外可見的時(shí)候，從來沒有遇到過。
     各位有遇到這種現(xiàn)象的嗎？討論討論？

我在測(cè)截止濾光片吸光度光譜時(shí)也碰到類似情況。所謂一系列密集排列十分高的吸收峰，倒不如說就是偽信號(hào)，就是異常噪聲。因?yàn)閮x器不能可檢測(cè)到20Abs的吸光度，目前國際上商業(yè)用最頂級(jí)的分光也就標(biāo)稱能測(cè)量8Abs，出現(xiàn)20多Abs只能是偽信號(hào)。當(dāng)時(shí)我估計(jì)是吸光度太大時(shí)，儀器的光電倍增管會(huì)加大放大增益，從而導(dǎo)致噪聲急劇增加，為信號(hào)可能是劣化的噪聲信號(hào)；也可能是測(cè)量數(shù)據(jù)超出軟件的處理范圍，溢出的信號(hào)就是偽信號(hào)。

至于你的情況有所不同，全當(dāng)拋磚引玉。

首先不知道你是做基線掃描還是掃描濾光片。其次一般從高波往低波掃，若反過來，數(shù)據(jù)有可能不正確（軟件原因）。看你的描述似乎是分段掃描就不出現(xiàn)這種情況，當(dāng)全譜掃描就出現(xiàn)是不是？

是掃描濾光片，分別掃描的鐠釹和氧化鈥。
  前面有點(diǎn)錯(cuò)誤，其中第二次掃描鐠釹的范圍從從810到500nm左右。兩次掃描的范圍不一樣

應(yīng)該做基線校正在試試

先進(jìn)行的基線校準(zhǔn)。

我碰到過類似情況，掃描氧化鈥濾光片的時(shí)候，出現(xiàn)許多不正常的吸收峰，密密麻麻，原因是基線沒有走，走一遍基線就正常了

在之前，先做的基線校準(zhǔn)。從理論上來說，就算不做基線掃描，也只是會(huì)產(chǎn)生一些誤差，但是，這種誤差不應(yīng)該產(chǎn)生是這樣的“偽信號(hào)”吧？