多功能真空泄露率校準(zhǔn)系統(tǒng)研制

作者：徐標(biāo)  劉深
簡(jiǎn)介：火箭、衛(wèi)星等航天器的檢漏是必不可少的工作內(nèi)容，若這些產(chǎn)品沒有很好的密封性，因泄露超標(biāo)，將會(huì)給航天發(fā)射、空間運(yùn)載等帶來嚴(yán)重事故，造成發(fā)射失敗、衛(wèi)星失控，甚至機(jī)毀人亡，因此，發(fā)射前應(yīng)對(duì)產(chǎn)品成百上千的密封部件進(jìn)行檢漏。此外，電子元器件的密封性和真空度也是很重要的技術(shù)指標(biāo)，密封性和真空度不合格將會(huì)使器件的性能下降或不能正常工作。真空檢漏技術(shù)中的漏率值和真空度，是直接反映那些具有密封性和真空度要求的儀器設(shè)備和元器件產(chǎn)品很重要的物理參數(shù)，所以就應(yīng)首先用檢漏儀對(duì)這些產(chǎn)品在廠和使用前進(jìn)行抽真空檢漏，以便確定其密封性指標(biāo)。

[ 本帖最后由 兌水 于 2009-2-6 17:13 編輯 ]

樓主，作者寫錯(cuò)了哦，是劉深。