請問微米數顯千分尺的受檢點?

微米千分尺的檢定用哪套量塊,
檢定哪幾點?
請大家幫忙!

[ 本帖最后由 美麗心情 于 2007-7-9 14:04 編輯 ]

量塊規格和尺寸

套  數	規  格（㎜）	尺  寸（㎜）
20塊組	5.12～100	1  5.12、10.24、15.36、21.5、25 2  30.12、35.24、40.36、46.5、50 3  55.12、60.24、65.36、71.5、75 4  80.14、85.24、90.36、96.5、100

參照 JJG 21-1995 千分尺檢定規程

[ 本帖最后由 duomeiti 于 2007-7-9 15:39 編輯 ]

謝謝duomeiti的回復!
可是這是微米千分尺呀,JJG21-1995只能檢分度值為0.01的千分尺呀?

檢微米千分尺和檢分度值為0.01mm外徑千分尺的檢法是一樣的，就是讀數是直接讀出來，不用估讀。檢微米千分尺比檢分度值為0.01mm的外徑千分尺好檢。

用20塊組就行.檢的方法和外徑千分尺一樣.但你說的也對.那規程沒有囊括數顯的.寫規程的老師也該寫進去了吧.不要等到更高精度的尺子出來在寫

微米千分尺比分度值為0.01mm的外徑千分尺提高了一個精度，減少了視差，是機械類量具的改進型。

哦,我明白了.
還是一樣的受檢點,一樣的示值誤差.只不過不用估讀了,還方便了呢.
比如5.12這一點,如果在5.116~5.124范圍內,也就是正負4um都算合格.對嗎?:P

數顯千分尺的示值誤差是多少?
好象不是正負4um,有資料說是正負2um,
哪位老師回答我呀!

[ 本帖最后由 duomeiti 于 2007-7-10 15:12 編輯 ]

參照 JJG 21-1995 千分尺檢定規程
示值誤差＜±4um，是1級外徑千分尺；示值誤差＜±2um，是0級外徑千分尺。

JJG21-1995上面沒有提到數顯千分尺的檢定是不是?
數顯千分尺有規程嗎?參照JJG21-1995?

數顯千分尺和普通的千分尺除了讀數的區別，其他沒有太大的區別，數顯千分尺精度提高了，但是，檢定方法是和普通千分尺一樣。

原帖由 duomeiti 于 2007-7-10 15:18 發表
參照 JJG 21-1995 千分尺檢定規程
示值誤差＜±4um，是1級外徑千分尺；示值誤差＜±2um，是0級外徑千分尺。

:o 我想請教下,1級外徑千分尺和0級外徑千分尺指哪些啊?

我搜索到的如下:

(13)示值誤差：外徑千分尺的示值誤差應不超過表6—10—33中的規定。板厚、壁厚千分尺的示值誤差不超過±4μm。

           表6—10—33外徑千分尺示值誤差
測量范圍(mm)        示值誤差(μm)         
                        0級            1級
0-100                 ±2              ±4
100-150              —              ±5
150-200              —              ±6
200-300              —              ±7
300-400              —              ±8
400-500              —              ±10



是不是這樣規定的呀?

[ 本帖最后由 lianzi84 于 2007-7-13 09:21 編輯 ]

不是吧?怎么又不能用"精度"一詞拉?:o

是這樣的規定。

原帖由 suyuantest 于 2007-7-13 22:03 發表
檢定用量塊必須用4等，按0級要求

不完整，用5等量塊能檢出1級外徑千分尺來。

國家沒有專門的數顯千分尺規程，似乎沒有必要制定專門的規程，倒是可以建議在千分尺規程修訂時增加相關內容。

JJG21已經在修訂了，新規程包含了數顯千分尺。總體來說不錯，但有許多地方值得商榷。

本規程適用于分度值為0.01mm測量范圍至500mm的外徑千分尺；測量范圍至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨率為0.001mm或0.0001mm,測量范圍至99.999mm的數顯外徑千分尺（以下簡稱千分尺）的首次檢定、后續檢定和使用中檢驗。

編制說明扎錄如下：
三、具體修訂內容
1、本規程適用范圍增加了對數顯千分尺的規定。
2、本規程依據GB/1216-2004取消了千分尺的級別，不再將千分尺定為0級和1級。
2、本規程對“測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動”的檢定方法規定“一般情況下可用手感檢查，有異議時可以杠桿表檢定。”。與原規程有所不同。
3、條款4.2“兩測量面的偏位”代替了原規程條款6“測砧與測微螺桿工作面的相對偏移”。
對于偏位值也按照GB/T1216—2004要求做了規定。檢定方法增加了“一般情況下用手感檢查千分尺兩測量面的錯移偏位，有異議時可專用檢具檢定”。
4、條款4.3按照GB/T1216—2004,測力值由（6～10）N改為（5～10）N
5、條款4.3“標尺標記寬度及寬度差”替代了原規程條款8“刻線寬度與寬度差”
   依據GB/1216-2004“微分筒標尺標記寬度由（0.15～0.20）mm改為（0.08～0.20）mm;固定套管標尺標記寬度不作量化規定,僅規定其與微分筒標尺標記的寬度差其寬度差應不大于0.03mm”。
檢定方法增加了“可采用滿足不確定度要求的其它方法”。
6、本規程依據GB/1216-2004取消了原規程條款12對于千分尺測量面粗糙度和校對量桿測量面的表面粗糙度指標的規定。
7、由于取消了對外徑千分尺的定級，依據GB/1216-2004平面度及最大允許誤差、校對用量桿等的允許數值也相應加大，基本上是按原1級外徑千分尺的指標而定。
8、依據GB/1216-2004條款6.3.11平行度的檢定方法中標準器—平行平晶改為“平行平晶的厚度差用大約相當于測微螺桿螺距1/3或1/4的光學平行平晶”。
9、條款4.10最大允許誤差”替代了原規程條款”示值誤差”,且其規定指標的數值也放大了。
   測微頭最大允許誤差原規程中為不大于±4μm。依據國家本規程中改為不大于±3μm。
   對于“測微頭最大允許誤差”的規定不采用GB/1216-2004中“一般情況下，測微頭最大允許誤差不做檢定”的規定。
10、校對用量桿尺寸偏差依據GB/1216-2004數值加大，且不對其兩測量面的平行度作規定。
11、增加了對數顯外徑千分尺的示值變動性的規定
12、增加了對數顯外徑千分尺示值穩定性的規定。
13、依據GB/1216-2004對原規程中的“工作面”在本規程中改為“測量面”。

參照千分尺檢定規程，根據實際情況增加檢測點