國家計量院一標(biāo)準(zhǔn)榮獲國家科技進步二等獎

國家計量院“碘穩(wěn)頻532nm光學(xué)頻率標(biāo)準(zhǔn)”榮獲國家科技進步二等獎
國家計量院  
2009-2-4

　　中共中央、國務(wù)院1月9日上午在人民大會堂隆重舉行國家科學(xué)技術(shù)獎勵大會。中國計量科學(xué)技術(shù)研究院“碘穩(wěn)頻532nm光學(xué)頻率標(biāo)準(zhǔn)”項目榮獲國家科技進步二等獎！這是繼中國計量科學(xué)技術(shù)研究院連續(xù)兩年（2006、2007）獲得國家科技進步一等獎后，再次獲得國家科技進步獎。該標(biāo)準(zhǔn)的建立，結(jié)束了我國單塊激光器依賴進口的局面，提升了我國長度基準(zhǔn)的技術(shù)水平，為先進制造業(yè)和國民經(jīng)濟多個領(lǐng)域提供了更準(zhǔn)確的溯源服務(wù)和計量保障。創(chuàng)造了目前可見光波段內(nèi)分子光頻標(biāo)的最高穩(wěn)定度，使我國該領(lǐng)域的計量技術(shù)達到了國際領(lǐng)先水平。
　　“碘穩(wěn)頻532nm光學(xué)頻率標(biāo)準(zhǔn)”是復(fù)現(xiàn)國際單位制長度基本單位“米”定義，構(gòu)成長度計量體系的基礎(chǔ)。該項目填補了我國長度基準(zhǔn)532nm光頻標(biāo)的空白。目前，該頻標(biāo)已成功用于我國計量科學(xué)研究領(lǐng)域，特別適用于對激光頻率質(zhì)量，頻率控制和調(diào)諧范圍有較高要求的計量科研領(lǐng)域，如精密干涉測量、重力測量、引力波探測以及基本物理常數(shù)的精密測量等方面的研究，并為基于光頻的新一代時間頻率基準(zhǔn)及其測量研究提供了技術(shù)支撐。