GB/T 14032-92 半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)測試方法的基本原理

【 標(biāo)準(zhǔn)編號 】 GB/T 14032-92
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 半導(dǎo)體集成電路數(shù)字鎖相環(huán)測試方法的基本原理  
【 英文名稱 】 General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
【 發(fā)布單位 】 國家技術(shù)監(jiān)督局
【 批準(zhǔn)單位 】 國家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1992-12-18
【 實(shí)施日期 】 1993-8-1
【 開本頁數(shù) 】 9P
【 起草單位 】 上海元件五廠
【 起 草 人 】 王慶光; 高信齡