GB/T 1551-1995硅、鍺單晶電阻率測(cè)定 直流兩探針?lè)?/span>

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 1551-1995
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定 直流兩探針?lè)?nbsp; 
【 英文名稱 】 Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe
【 發(fā)布單位 】 SBTS
【 批準(zhǔn)單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1995-4-18
【 實(shí)施日期 】 1995-12-1
【 開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 11P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 1551-1979; GB 5253-1985
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 1550; GB/T 1552 etc.
【 采用關(guān)系 】 ,
【 起草單位 】 上海有色金屬工業(yè)總公司