GB/T 4937-1995半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 4937-1995
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法  
【 英文名稱 】 Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
【 發(fā)布單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 批準(zhǔn)單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1995-12-22
【 實(shí)施日期 】 1996-8-1
【 開本頁數(shù) 】 34P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 4937-86
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 2421-89; GB 2423; GB 2424; GB 5169.5-82; IEC 747; IEC 748
【 采用關(guān)系 】 IEC 749-1984,IDT
【 起草單位 】 上海市電子儀表標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量測(cè)試所; 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【 起 草 人 】 倪月琴; 王長(zhǎng)福