GB/T 4937-1995半導體器件機械和氣候試驗方法

【 標準編號 】 GB/T 4937-1995
【 標準名稱 】 半導體器件機械和氣候試驗方法  
【 英文名稱 】 Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
【 發(fā)布單位 】 國家技術監(jiān)督局
【 批準單位 】 國家技術監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1995-12-22
【 實施日期 】 1996-8-1
【 開本頁數(shù) 】 34P
【 替代標準 】 GB 4937-86
【 引用標準 】 GB 2421-89; GB 2423; GB 2424; GB 5169.5-82; IEC 747; IEC 748
【 采用關系 】 IEC 749-1984,IDT
【 起草單位 】 上海市電子儀表標準計量測試所; 中國電子技術標準化研究所
【 起 草 人 】 倪月琴; 王長福