GB/T 5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 5170.10-1996
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備  
【 英文名稱 】 Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments
【 發(fā)布單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 批準(zhǔn)單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1996-6-17
【 實(shí)施日期 】 1997-7-1
【 開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 7P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 5170.10-85
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 5170.1-1995; GB/T 5170.2-1995; GB 2423.21-91; GB/T 2423.25-92; GB/T 2423.26-92
【 起草單位 】 電子工業(yè)部第五研究所
【 起 草 人 】 付文茹; 謝建華; 陳學(xué)進(jìn); 王則燕; 薛振夷