蒲長城副局長一行領導赴國家計量院昌平院區視察指導工作

總局蒲長城副局長一行領導赴國家計量院昌平院區視察指導工作
來源：國家計量院   
2008-12-15

　　12月9日上午，國家質檢總局蒲長城副局長，計量司韓毅司長、科技司田壯副司長等一行領導到中國計量科學研究院昌平院區視察指導工作，重點參觀了我院長度計量研究室，聽取了長度所與潘福來專業照相機有限公司共同研發的“三維數字化攝像測量及校準標準裝置”的階段成果匯報。我院張玉寬院長，于亞東書記，段宇寧副院長以及科技發展部、長度所負責人和相關科研人員參加了此次會議。
　　蒲長城副局長對我院基于國內外出現的大量高精度三維攝影測量設備和三維工業測量系統無法溯源問題而開展的研究工作給予了充分的肯定。他指出，該項目是以文物藏品的三維高精度攝影測量系統的校準需求和制造業發展對精密測量的溯源技術要求為切入點提出的，以市場要求為導向，是以社會需求確定研究目標，并與用戶緊密結合的研發項目，值得提倡和推廣。
　　蒲長城副局長針對我院當前面臨的形勢，提出了三點要求：一是要進一步轉變視角，密切關注國家經濟、社會和科技發展的需求，要擴大視野充分關注發展的新要求，堅持“有所為有所不為”的方針，突出重點，輕重緩急，作好技術儲備；二是要根據測量技術水平的發展對計量提出越來越高的要求，在現有技術水平的基礎上不斷提升擴展測量和服務能力；三是要探索研究方式，要堅持“產學研”相結合。要注重研發，做到測量裝置和計量校準標準的研究要緊密結合，要注重合作，做到研發與需求同步發展。希望計量院在今后的工作中為國家和人民做出更多、更大的貢獻。
　　張玉寬院長代表計量院全體職工感謝總局領導長期以來對計量院工作的關心和支持，表示一定要在總局黨組的堅強領導下，按照科學發展觀的要求，抓住機遇，迎接挑戰，團結協作，開拓進取，為開創我國計量科技工作的新局面而努力。