GB/T 1553-1997硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測(cè)定光電導(dǎo)衰減法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 1553-1997
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測(cè)定光電導(dǎo)衰減法  
【 英文名稱 】 Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
【 發(fā)布單位 】 SBTS
【 批準(zhǔn)單位 】 國家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1997-6-3
【 實(shí)施日期 】 1997-12-1
【 開本頁數(shù) 】 15P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 1553-1979; GB 5257-1985
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 1550-97; GB/T 1551-95 etc.
【 采用關(guān)系 】 ASTM F28-1990,EQV
【 起草單位 】 峨嵋半導(dǎo)體材料廠