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GB/T 17473.3-1998厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法

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woshi_tjy 發表于 2008-11-29 11:06:14 | 只看該作者回帖獎勵

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【標準編號】 GB/T 17473.3-1998
【標準名稱】厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法方阻測定
【英文名稱】 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics-Determination of sheet resistance
【發布單位】國家質量技術監督局
【批準單位】國家質量技術監督局
【發布日期】 1998-8-19
【實施日期】 1999-3-1
【開本頁數】 7P
【引用標準】 GB/T 2421-1989; GB/T 8170-1987
【起草單位】昆明貴金屬研究所
【起草人】陳一; 金勿毀

厚膜, 微電子技術, 漿料, 貴金屬

BZ002024036.pdf

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