GB/T 17473.4-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 17473.4-1998
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 附著力測(cè)定  
【 英文名稱 】 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of adhesion
【 發(fā)布單位 】 SBTS
【 批準(zhǔn)單位 】 國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1998-8-19
【 實(shí)施日期 】 1999-3-1
【 開本頁(yè)數(shù) 】 4P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 8170-87; GB/T 3131-88
【 起草單位 】 昆明貴金屬研究所