GB 1772-1979 電子元器件失效率試驗(yàn)方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號 】 GB 1772-1979
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 電子元器件失效率試驗(yàn)方法  
【 英文名稱 】 Determination of failure rate of electronic elements and components
【 發(fā)布單位 】 國家標(biāo)準(zhǔn)總局
【 發(fā)布日期 】 1979-9-25
【 實(shí)施日期 】 1980-3-1
【 開本頁數(shù) 】 9P