能量色散X射線熒光光譜儀校準方法

1 范圍
  本規范適用于新生產、使用中和修理后的能量色散X射線熒光光譜儀的校準。
2 引用文獻
  JJG 810-93 波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程
3 術語和計量單位
3.1 分辨力
檢測器的分辨力以脈沖高度分布的半峰寬（eV）來表示，簡寫為R。
3.2信噪比
信噪比以鎘元素Kα線脈沖高度與噪聲的比值（S/N）來表示。其中，S是鎘元素的X射線熒光強度，N是背景值。
4 概述
   能量色散X射線熒光光譜儀用于固體、粉末或液體物質的元素分析。工作的基本原理是X射線管發出的初級X射線激發試樣中的原子，測定由此產生的X射線的熒光的能量強度，根據各種元素特征X熒光光譜線的能量強度進行元素的定性和定量分析。
5 計量性能要求
5.1外觀
5.1.1儀器應有儀器名稱、制造廠、出廠日期和編號的標志。
5.1.2所有部件連接良好、動作正常。
5.1.3面板上的儀表、指示燈和安全保護裝置工作正常。
5.2 技術性能
技術性能包括儀器分辨力、信噪比、儀器的計數線性、重復性、穩定性。
5.2.1分辨力：鎘元素Kα線脈沖高度的半峰寬應優于260eV。
5.2.2信噪比：S/N應大于2。
5.2.3儀器計數線性：90%儀器規定最大線性計數率時的計數率偏差優于2.0％。
5.2.4重復性：優于3.0％
5.2.5穩定性：優于4.0％
6 校準條件
6.1校準的環境條件
6.1.1環境溫度：（15－30）℃
6.1.2相對濕度：≤80％，或按儀器說明書規定。
6.1.3電源：電壓AC（220±22）V或（380±38）V,頻率（50±1）Hz。
6.1.4儀器周圍應無強烈交流電干擾，無強氣流及酸、堿等腐蝕性氣體。
6.1.5儀器附近無強烈振動源。
6.1.6儀器及電源應有良好接地。
6.2 校準設備
6.2.1純銅或黃銅圓塊＊
6.2.2鎘標準溶液(GBW(E)080383)

7 校準項目和校準方法
7.1  檢測器分辨力的測定
     校準條件：160mg/L鎘元素標準溶液，X射線源電壓：50 kV，調節電流為100μA，濾光片：Zr，真空光路。
檢測器的分辨力以鎘元素脈沖高度分布的半峰寬（eV）來表示。
7.2  信噪比的測定
校準條件：160mg/L鎘元素標準溶液，X射線源電壓：50 kV，調節電流為100μA，濾光片：Zr，真空光路。
信噪比以鎘元素脈沖高度與背景噪聲的比值（S/N）來表示。其中，S是鎘元素的X射線熒光強度，N是背景值。
7.3  儀器計數線性的測定
用純銅或黃銅塊樣品測量CuKa線。X射線源的電壓設置在40 kV或50 kV，電流分別為50、100、200、300、400、500μA，無濾光片，空氣光路，依次測量CuKa的計數率，每個電流值的計數率測量3次，取平均值。以下式計算90%儀器規定最大線性計數率時的計數率偏差CD：
              
式中    ―――――由線性直線給出的計數率值，在此為90％儀器規定最大線性計數率；
    ―――――－由實測工作曲線給出的計數率值。
  注：測量時，X射線管的使用功率不超出額定功率。

7.4  重復性的測定：
校準條件：純銅或黃銅塊樣品，測量CuKa的計數率，無濾光片，X射線源電壓設置在40kV或50kV，調節電流300μA，空氣光路。
重復性以11次連續重復測量的相對標準偏差RSD表示，每次測量都必須改變樣品放置位置等。

式中，Ii---------i次測量的計數率;
      -----------11次測量的計數率的平均值。
7.5  穩定性的測定
儀器開機穩定后，測定條件：純銅或黃銅塊樣品，測量CuKa的計數率，無濾光片，X射線源電壓設置在40kV或50kV，調節電流300μA，空氣光路，在不少于2h內，間隔15min以上，重復7次測量，計算7次測量值的相對標準偏差（RSD）為穩定性。

              
式中，Ii---------i次測量的計數率;
        -----------7次測量的計數率的平均值。
8 校準結果
   符合5.2.1～5.2.5要求的能量X射線熒光光譜儀可以用本方法進行校準。

9 復校的時間間隔
   建議每年校準一次，更換重要部件或對儀器性能有懷疑時，應隨時校準。



















＊國家計量行政部門批準適用于本規程的標準物質后，即應采用。
:lol

不能是文件嗎？很多公式沒有看到