在電子產品設計中必須遵循抗靜電釋放的設計規則,本文介紹靜電釋放(ESD)產生的原理,以及機箱、屏蔽層、接地、布線設計等諸多設計規則,它們有助于預防并解決靜電釋放產生的危害,值得中國電子設備設計工程師認真研究和學習。
許多產品設計工程師通常在產品進入到生產環節時才著手考慮抗靜電釋放(ESD)的問題。如果電子設備不能通過抗靜電釋放測試,他們就會加班加點找尋不破壞原有設計的解決方案。然而,最終的方案通常都要采用昂貴的元器件,還要在制造過程中采用手工裝配,甚至需要重新設計,因此,產品的進度勢必受到影響。
即使對經驗豐富的工程師和設計工程師,也可能并不知道設計中的哪些部分有利于抗ESD。大多數電子設備在生命期內99%的時間都處于一個充滿ESD的環境之中,ESD可能來自人體、家具、甚至設備自身內部。電子設備完全遭受ESD損毀比較少見,然而ESD干擾卻很常見,它會導致設備死鎖、復位、數據丟失和不可靠。其結果可能是:在寒冷干燥的冬季電子設備經常出現故障現象,但是維修時又顯示正常,這樣勢必影響用戶對電子設備及其制造商的信心。
ESD產生的機理
要防止ESD,首先必須知道ESD是什么以及ESD進入電子設備的過程。一個充電的導體接近另一個導體時,就有可能發生ESD。首先,兩個導體之間會建立一個很強的電場,產生由電場引起的擊穿。兩個導體之間的電壓超過它們之間空氣和絕緣介質的擊穿電壓時,就會產生電弧。在0.7ns到10ns的時間里,電弧電流會達到幾十安培,有時甚至會超過100安培。電弧將一直維持直到兩個導體接觸短路或者電流低到不能維持電弧為止。
ESD的產生取決于物體的起始電壓、電阻、電感和寄生電容:
可能產生電弧的實例有人體、帶電器件和機器。
可能產生尖峰電弧的實例有手或金屬物體。
可能產生同極性或者極性變化的多個電弧的實例有家具。 ESD可以通過五種耦合途徑進入電子設備:
初始的電場能容性耦合到表面積較大的網絡上,并在離ESD電弧100mm處產生高達4000V/m的高壓。
電弧注入的電荷/電流可以產生以下的損壞和故障:a. 穿透元器件內部薄的絕緣層,損毀MOSFET和CMOS元器件的柵極(常見)。b. CMOS器件中的觸發器死鎖(常見)。c. 短路反偏的PN結(常見)。d. 短路正向偏置的PN結(少見)。e. 熔化有源器件內部的焊接線或鋁線(少見)。
電流會導致導體上產生電壓脈沖(V=L×dI/dt),這些導體可能是電源、地或信號線,這些電壓脈沖將進入與這些網絡相連的每一個元器件(常見)。
電弧會產生一個頻率范圍在1MHz到500MHz的強磁場,并感性耦合到臨近的每一個布線環路,在離ESD電弧100mm遠的地方產生高達15A/m的電流。
電弧輻射的電磁場會耦合到長的信號在線,這些信號線起到接收天線的作用(少見)。ESD會通過各種各樣的耦合途徑找到設備的薄弱點。ESD頻率范圍寬,不僅僅是一些離散的頻點,它甚至可以進入窄帶電路中。為了防止ESD干擾和損毀,必須隔離這些路徑或者加強設備的抗ESD能力。表1描述了對可能出現的ESD的防范措施以及發揮作用的場合。 |
|