SJ/T 10167-91電子設備密封結構試驗方法

【 標準編號 】 SJ/T 10167-91
【 標準名稱 】 電子設備密封結構試驗方法  
【 英文名稱 】 Test methods of densification structure for electronic equipments
【 發布單位 】 中華人民共和國機械電子工業部
【 批準單位 】 中華人民共和國機械電子工業部
【 發布日期 】 1991-4-2
【 實施日期 】 1991-7-1
【 開本頁數 】 15P
【 引用標準 】 SJ/T 10166
【 起草單位 】 國營第786廠; 機械電子工業部電子標準化研究所
【 起 草 人 】 師華欽; 仇金陵; 孫樹菊; 張繼瑞; 馮長友