SJ/T 10436-93半導(dǎo)體電阻應(yīng)變計(jì)空白詳細(xì)規(guī)范評定水平E

【 標(biāo)準(zhǔn)編號 】 SJ/T 10436-93
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 半導(dǎo)體電阻應(yīng)變計(jì)空白詳細(xì)規(guī)范評定水平E  
【 英文名稱 】 Blank detail Specification for the Semiconductor resistance stain gage Assessment level E
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國電子工業(yè)部
【 批準(zhǔn)單位 】 中華人民共和國電子工業(yè)部
【 發(fā)布日期 】 1993-12-17
【 實(shí)施日期 】 1994-6-1
【 開本頁數(shù) 】 8P
【 起草單位 】 電子工業(yè)部第四十九研究所
【 起 草 人 】 李興騰