GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 2423.27-2005
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)  
【 英文名稱 】 Environmental testing for electric and electronic products-Part 2:Tests methods-Test Z/AMD:Combined sequential cold,low air pressure and damp heat test
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局; 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
【 發(fā)布日期 】 2005-8-26
【 實(shí)施日期 】 2006-4-1
【 開本頁數(shù) 】 5P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 2423.27-1981
【 采用關(guān)系 】 IDT IEC 60068-2-39:1976
【 起草單位 】 信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所
【 起 草 人 】 邱福來; 張錚