X射線熒光鍍層測厚儀校準規范征求意見稿

X射線熒光鍍層測厚儀是一種基于能量色散方法的非破壞性定量分析儀器，具有分析測量多種金屬材料成份和多種鍍層厚度的功能，廣泛應用于電子、半導體、首飾、材料分析等行業。X射線熒光鍍層測厚儀測量鍍層厚度的原理是：X射線管產生的初級X射線照射在被分析的樣品上，樣品受激發而輻射出二次X射線被探測器接收，此二次輻射具有該樣品材料的波長和能量特征，鍍層厚度和二次輻射強度有一定的關系，經多道分析器及計算機進行能譜分析處理后，計算被測樣品的鍍層厚度。
X射線熒光鍍層測厚儀的工作原理示意圖見圖1。外形示意圖參見圖2和圖3.