紅外輻射溫度計(jì)的輻射源尺寸效應(yīng)修正

作　　者：原遵東
機(jī)構(gòu)地區(qū)：中國計(jì)量科學(xué)研究院,北京100013
摘　　要：紅外輻射溫度計(jì)在低溫測(cè)量的輻射源尺寸效應(yīng)（SSE）的規(guī)律不同于高溫測(cè)量。基于以虛擬探測(cè)器溫度消除背景輻射影響的SSE計(jì)算模型，推導(dǎo)了在不同源尺寸和不同背景條件下輻射溫度計(jì)輸出的SSE影響修正公式；得出不同源尺寸條件下輻射溫度計(jì)溫度示值的SSE影響修正的理論解析表達(dá)式。在源溫度低于或接近背景溫度時(shí)修正模型與高溫測(cè)量SSE修正模型有顯著差異。所得結(jié)果適用于任意溫度下對(duì)單波段輻射溫度計(jì)的SSE影響修正。