納米長度測量的標(biāo)準(zhǔn)化研究

納米長度測量的標(biāo)準(zhǔn)化研究

盛克平 何寶林 楊偉浩上海市計量測試技術(shù)研究院,上海200233摘　要:本文從納米測量的標(biāo)準(zhǔn)化文件、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、測量不確定度的評定三個方面簡述了有關(guān)納米長度測量方法的標(biāo)準(zhǔn)化概況及國內(nèi)外的進展。[第一段]

關(guān)鍵詞:標(biāo)準(zhǔn)化文件 納米測量 長度測量 測量不確定度 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 測量方法 國內(nèi)外
分類號:　TB9[機標(biāo)]文獻(xiàn)標(biāo)識碼：文章編號：欄目信息：地學(xué)會議論文摘要