產品要求平面度3um 平行度5um 粗糙度0.5um 用什么設備檢測

最近公司開發一款新產品，原材料是鉬。

產品要求表面粗糙度0.5um平面度3um 平行度5um

因為精度要求高，詢問了許多設備廠商都無法滿足

不知道有誰知道用什么設備進行檢測，或者可以滿足此精度要求的設備

謝謝，也可留下聯系方式，謝謝！

請描述一下產品的大小和基本幾何結構（即大致形狀），以及被測表面的大小。

以上為產品的2D圖紙和技術要求，請幫忙看下，
是陽極鉬片

回復 2# 規矩灣錦苑


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以上為產品陽極鉬片的2D圖紙和技術要求，請版主幫忙看下，

回復 4# winfeng2008

　　這是一張厚1.5mm，直徑Φ43mm的薄片型零件，雙面平面度和相互之間的平行度要求很高，表面粗糙度Ra0.5為過去的8級光潔度，而厚度尺寸控制要求并不高。雖然圖紙規定了兩個表面一個是被測要素，另一個是基準要素A，但是因為兩個表面的幾何結構和尺寸及形狀公差要求完全相同無法區分，應理解為互為被測要素和基準要素。
　　對于材料性能我不懂，不知道這么薄的零件剛性如何，測量中的支撐狀態和受力變形對測量結果的影響有多大。為了預防材料變形對測量結果的影響，建議測量方法如下：
　　使用的測量設備：立式光學計和Φ45mm或Φ60mm的雙工作面平晶
　　測量方法：
　　1.將平晶置于立式光學計工作臺上，儀器安裝球形測頭，1.5mm量塊放平晶上，測頭與量塊表面接觸調整儀器零位；
　　2.取下量塊，將被測件置于平晶上，對被測件各受檢點檢測，各點讀數最大值與最小值之差a1。然后將被測件翻面同樣方法再檢得a2。
　　3.評定：
　　如果a1≤0.003mm，a2≤0.003mm，則被測件平面度和平行度均合格。
　　如果a1≤0.003mm，a2＞0.003mm但＜0.005mm，則被測件平行度和A面平面度合格，B面平面度是否合格應根據各點的檢測數據按最小包容平面進行評定后加以判定。如果a1和a2有一個＞0.005mm，則被測件判定為不合格。
　　說明：
　　①平晶表面模擬理想平面和被測件的下表面，同時支持下表面防止被測件自重和測量力的影響造成測量誤差，使用雙工作面平晶是為了確保平晶兩個工作面的平行度滿足測量要求。
　　②儀器相對于平晶的理想平面調整了零位，因此被測表面各點的讀數就是該點到理想平面的距離，各受檢點到理想平面的最大距離與最小距離之差就是該表面的平面度，所以被測件上表面檢測的最大值與最小值之差就是該表面的平面度誤差。
　　③因為被測件放在平晶上，平晶表面模擬了被檢件的下表面，被測件上表面檢測的最大值與最小值之差可認為是上表面各點對下表面的最大厚度差，也就等于對下表面的平行度誤差。翻面檢測后得到另一面與其對面的平行度誤差。取兩個平行度誤差中的最大值為被測件兩工作面平行度誤差。
　　④表面粗糙度的檢測非常簡單，我就不說了。

回復 5# 規矩灣錦苑


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