測長機和測長儀是一回事嗎？

學習了，太感謝大家了。

受教了，測長機精度確實比測長儀高

一堆扯！
早期：符合阿貝的叫儀，因加工制造困難，所以“儀”一般測量范圍小于600mm；通過對阿貝進行光學補償（愛賓斯坦原理）后，儀器能做到3米左右，為以示區別，叫“機”。－－這就為什么早期對導軌直線度要求特別高的原因 。兩者示值誤差在同一水平
后期：因光柵、電子、計算機等技術成熟，通過實時補償等可減少阿貝的影響。測長儀的始祖ZESSI于1987年就只有測長機，而取消測長儀這種概念了
目前國外產品就只有測長機一種說法
國內新天還保持測長儀、機兩種分類而已－－早期的國標就是新天寫的

每次看你的回復都有新發現，每次都發現自己很菜，受教！回復 6# 規矩灣錦苑

回復 24# mwqal

關于測長機（執行JJF1066）、臥式測長儀（執行JJG55）、臥式光學計（執行JJG45）的區別
　　測長“機”和測長“儀”的區別的確與其測量范圍有關，但界限不是100mm。打開JJG55測長儀檢定規程和JJF1066測長機校準規范各自的“概述”，就會發現測長儀的測量上限最大達500mm，測長機的測量上限最小的規格也達到了1000mm。但是，測量范圍并不是它們的關鍵區分標準，最主要的區分標準還是測量設備的讀數放大原理。
　　從JJG55測長儀檢定規程的圖1和圖2可以發現測長儀的讀數裝置都是顯微放大原理，無論是厘米、毫米和微米都用同一個讀數鏡頭（顯微鏡頭）讀得，尺寸主要都靠安裝在測量軸上的那一根刻度尺，所以厘米、毫米和微米讀數的示值誤差檢定也一次完成。測長機的微米、毫米和分米則分別刻度在三個刻度尺上，一個測量結果需在三個讀數機構中分別讀取。其中微米讀數靠的是光管，放大原理是光學杠桿，所以需要單獨檢定微米刻度尺、毫米刻度尺和分米刻度尺的示值誤差。
　　如果把臥式測長儀的測量座（連同測量軸、讀數裝置）換成光學計管，就是臥式光學計了。臥式光學計應該執行檢定規程JJG45《光學計》，而不是JJG55《測長儀》。臥式光學計與測長儀的區別就在于讀數裝置一個是光學杠桿原理的光管，另一個是顯微鏡放大原理的螺旋目鏡。
　　臥式光學計與測長機的讀數放大原理完全相同，都是光管。它們的唯一區別就真的只是測量范圍了。測長機實際上就是把臥式光學計的導軌延長，在導軌上安裝分米刻度尺，尾座上裝個鏡頭讀取分米量值。因為光學計的導軌沒有分米刻度，因此限制了光學計的測量范圍。另外，為了解決介于微米和分米之間的毫米和厘米讀數問題，在測量座上測長機又增加了一個毫米讀數鏡頭。
　　現代測量長度的儀器因為采用了雙頻激光技術和微電子技術，其準確度比光學杠桿放大原理毫不遜色，測量范圍也幾乎不受限制，已達數十米，因此光學計管和顯微放大讀數裝置逐漸被其取代，正象25樓量友說的測長儀與測長機的差別將逐漸被淡化。在目前計量科技發展過渡期，各種原理的測量設備在企業中并用，對光學計、測長機、測長儀、激光干涉儀等分別制定和發布檢定/校準技術標準仍有必要。

學到了一些東西，

學習了，又長知識了，謝謝各位

真的是學習了，以前一直以為兩者的區別就是測量上限不同

測長機不符合阿貝原則，測長儀符合阿貝原則吧！應該是測長儀比測長機準確度高吧！

測長儀是符合阿貝原則的，而測長機是靠光學補償的，其補償原理的關鍵是尾座的準直物鏡和頭座的望遠鏡的焦距必須與測量軸線至分米刻度面、0.1 mm刻度面的距離相等。

細節要學的還有很多

符不符合阿貝原則還需要看哪種測量方式？

學習了    對于測長機和測長儀的原理和今后的發展趨勢有了了解   謝謝版主

學習了學習了！

回復 6# 規矩灣錦苑

不錯。

不是一回事的，大有區別

學習了，原來還真不知道有這么個區別！！

主要還是看自己需要什么樣的測量形式和范圍！！！

回復 30# 規矩灣錦苑


    這個貼從儀器設計的角度準確說明了測長機，測長儀和光學計的差別。
不過，從校準的角度而言，測長儀可以直接從頭校準到尾，測長機需要校準三個標尺。

還得慢慢學習，

回復 6# 規矩灣錦苑


   恩，比較清楚的答案。結論是測長機好

回復 7# jacksilver


    個人認為測長儀的測量原理符合阿貝原則，而測長機的測量原理不符合。

28樓的解釋基本是正確的，個人表示支持。

       隨著科學技術的發展，以及光、機、電技術相結合的日趨成熟，以及計算機技術的普及，測長機和測長儀的差別將越來越小。不管科學技術發展的趨勢，籠統的講“測長機比測長儀的準確度高”，肯定是瞎說一氣。

不是一回事。測長機比測長儀精度高，測長機可以檢定大量塊。