光學儀器專業知識試題 單位:
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一,填空題(每題2分,共20分) 1,阿貝原則是指測量軸線在 上。根據這一原則,判別萬能工具顯微鏡是否符合? 。 2,投影儀光路的基本原理是由照明系統和投影系統兩部分組成。而照明系統是由 組成,投影系統是由 組成。 3,光學計的結構原理是光學
和 正切原理的組合。 4,光學分度頭的示值誤差,主要由 和 組成。 5,投影儀的放大倍數的正確性,對于影屏不大于Φ600mm的,不超過 ;對于影屏大于Φ600mm的,不超過 。 6,無論立式光學計還是臥式光學計,其示值誤差在±60μm范圍內不超過 ,超過±60μm范圍的不超過 。 7,光學儀器中的物鏡或目鏡,其中心稱 ,焦點到光心的距離為
。 8,投影儀放大倍數的正確性,是采用檢定極限誤差不超過±0.5μm的
和示值誤差不超過0.03mm的
檢定。 9,工具顯微鏡的光學定位器,檢定或使用時,在主顯微鏡上所要安裝的物鏡,其放大倍數為
。 10,工具顯微鏡的示值誤差要求不超過
。 二,選擇題(每題2分,共20分) 1,光學計的準直目鏡屬于
。 (1)高斯式目鏡。(2)阿貝式目鏡。(3)雙分劃板式目鏡。 2,立式光學計示值誤差用量塊檢定時,需要借助瑪瑙工作臺或三珠工作臺進行,其目的是
。 (1)
防止量塊工作面被損傷;(2)消除量塊彎曲影響;(3)便于操作提高效率; 3,工具顯微鏡的光軸,頂針軸線和立柱回轉軸線相對位置用十字線心軸檢定時,使立柱向左和向右擺動,出現十字線心軸的十字線象隨著向左和向右偏移,引起這一現象的原因是
。 (1)
立柱回轉軸線低于頂針軸線。(2)頂針軸線低于立柱回轉軸線。(3)光軸不通過立柱回轉軸線。 4,臥式光學計在檢定示值誤差之前,需要將安裝在測量桿上的球面測帽調整至正確狀態,欲知達到正確狀態需看儀器的示值處于
。
(1)最小值;
(2)最大值;
(3)一方位上最大值,另一方位最小值;
5,大小型工具顯微鏡,其主顯微鏡的鏡筒移動方向與工作臺面的垂直度不超過
。 (1)
2′或0.010mm/16mm;
(2)3′或0.014mm/16mm;(3)5′或0.023mm/16mm; 6,某一儀器的工作面的平面度,若在白光情況下用平晶以技術光波干涉法檢定時,受檢工作臺面的平面度一般不大于
。
(1)0.001mm;
(2)0.002mm;
(3)0.003mm;
7,光學分度頭的主軸錐孔或頂尖的軸線偏移主軸回轉軸線E情況下,對被測半徑R引起的最大角度誤差為
。
(1) (2) (3)
8,對于凹透鏡的成象,如果虛物點在主點到焦點之間,象點在主點到無窮遠之間,則成 。 (1)
倒立的虛象; (2)放大的正立實象;(3)縮小的正立虛象; 9,工具顯微鏡的測量刀分為平刀口和斜刀口兩種,其中斜刀口的測量刀是用于 。 (1)
測量圓錐體的直徑和錐度;(2)測量螺紋中徑和螺距;(3)測量圓柱體的直徑; 10,游標讀數機構的刻度,當分度值為I,模數γ=2時,則主尺的刻線間距a和副尺(游標)刻線間距b的關系為 。 (1)b=γa-i
(2)a=γb-i
(3)b=γa |