求助!游標卡尺其受檢點 問題

如一個（0-300）mm 的游標卡尺JJG30-2002規程中要求其受檢點為101.30   201.60   291.90 mm


可不可以更改為 0    25   50  100  125  150   200  275  300  呢  ？？


ps：  其他的量具（指示表、千分尺）可不可以一樣更改其規程中要求的受檢點？

這是不可以的，如果改成整數的檢定點，只是檢定了主標尺，沒有進行游標尺的檢定

規程對計量器具示值誤差受檢點的規定，決不是隨意性質的，而是多方面考慮，且有實驗數據做依據的。所以規程當中對受檢點的規定是不可以隨意改的。

可以針對實際的實用情況，在規程的基礎上增加幾個抽檢點。

明白了！謝謝各位的解答！

受檢點確定的原則之一：在能夠真實反映儀器示值誤差的前提下，受檢點越少越好。

帶表的倒是可以

回復 6# xqbljc


    為什么是越少越好呢？

回復 8# ONEMAX


    制定規程要求的四性是：①科學性、②正確性、③可行性、④經濟性。

   “在能夠真實反映儀器示值誤差的前提下”，說明規程受檢點確定符合①和②，在前述基礎上“受檢點越少越好”，豈不反映了規程受檢點確定也符合③和④了嗎。

基本來說，規程規定的點不可以少，但是可以根據你的使用要求來增加點，這樣才是最科學的。
比如你的游標卡尺，按照規程走，能檢查主尺和游標的總體精度（小數點是為了檢游標，不能省），如果你經常使用155mm這個點，產品就是155尺寸要測，批量的只是用這個點，那么，檢定的時候要加上155這個點，因為，這個單點的磨損不能通過正常的按照規程的點位給你檢出來，等你這一點的主尺都磨損到影響示值0.06的時候，按照規程的點位檢定，結論還是合格----偽合格就是這么來的，千分尺也是一樣。
相信我吧，這是經驗。機構的檢定員不會管你這些，但是作為企業的檢定員，還是應該了解的。

可以改，但不能象你那樣改，要均勻分布，而且還要考慮到游標上也要均勻分布。

應該按規程點走，但是你可以自己增加一些看看

小數點后的數字還是要的，
最好是按147或258或369的數字包含在內。

表類的還要看正、負行程，
經常會出現2~3mm內合格，但3~4mm內不合格或者3~2mm不合格的情況，
最好是按標準來操作，但如果風險性較小，你可以自行選擇。

那意思是一定要用卡尺專用兩塊？普通兩塊不能用了？

回復 1# ONEMAX

　　通用卡尺檢定規程JJG30的6.3.12條說得已經非常清楚：“受檢點的分布：對于測量范圍在300mm內的卡尺，不少于均勻分布三點，……；對于測量范圍大于300mm的卡尺，不少于均勻分布六點，……?！币虼耍?br /> 　　1.有量友說受檢點越少越好是不正確的?！安簧儆凇钡囊馑际亲畹拖?，受檢點應該越多越好，只不過為了提高檢定工作的工作效率，受檢點越少越好。但是，為了確保檢定質量，最低限的受檢點數量不可以突破檢定規程的最低限規定。4樓提出“可以針對實際的實用情況，在規程的基礎上增加幾個抽檢點”是完全正確的。只是增加受檢點的數量要在最低限的基礎上適當把握，10樓根據使用情況增加常用尺寸段的受檢點的做法是符合檢定規程規定的，是值得推崇的。
　　2.“均勻分布”既指主尺均勻分布，也指游標均勻分布。小數部分就是游標的讀數，小數有0.10、O.20、0.30、0.40、0.50、0.60、0.70、0.80、0.90。如果三個點均勻分布，就有三組：①0.10、0.40、、0.70；②0.20、0.50、0.80；③0.30、0.60、0.90。因為量塊小于1mm易彎曲變形，市面難以找到，因此均在此基礎上增加1mm。對于(0～300)mm卡尺而言，主尺均勻分布三點就是100、200、300。如果采用第一組尾數，分別就是：101.10、201.40、301.70，其中301.70超過了測量范圍，減少10mm就是291.70。JJG30的6.3.12條只是給出了②和③組尾數的示例，不是指非得要選擇這兩種尾數。
　　3.檢定規程只是說要用3級或者6等（新的量塊檢定規程已經取消6等，因此現在應該是5等）量塊，并沒有說一定是卡尺檢定專用量塊。因此14樓的問題可以肯定地答復，沒有卡尺專用量塊時，使用普通量塊也是可以的。使用普通量塊的缺點是要不停地拼合，關鍵是影響檢定效率，準確度的損失不足以影響卡尺檢定的要求，可以忽略不計。

游標卡尺其受檢點問題的探討，應該把別人的帖子的觀點看全了再講。比如講單獨僅就“受檢點越少越好”這一句話拿出來探討，顯然此話應該是不正確的。但受檢點越少越好的前面還有一句話啊。那就是“在能夠真實反映儀器示值誤差的前提下”，既然能夠真實反映儀器示值誤差了。那么“受檢點越少越好”顯然是正確的嗎！當然此有前提的“越少越好”受檢點數量應該并沒有突破檢定規程“不少于”的最低限規定。所以有上述前提的“越少越好”的觀點與規程的“四性”是一致的，不應該以點待面來論證其本來不存在的什么不正確的。
      在對取消了前提的“受檢點越少越好”論證為不正確后，又得出了“受檢點應該越多越好”結論則明顯就是錯誤的了，“越多越好”的受檢點怎么講，這個范圍包括了“不少于”～“無數個”啊。所以“受檢點應該越多越好”的觀點是對規程“四性”的全方位違背的。明顯錯誤的東西沒有必要再去詳細的論證什么了。至于“增加受檢點的數量要在最低限的基礎上適當把握”，應該看到“適當把握”是很難操作，是摸棱兩可的東西，貌似正確但不具有可行性的話語是不會寫入規程的。
      再重復一下，“在能夠真實反映儀器示值誤差的前提下，受檢點越少越好”，這是完整的一句話，不可以割裂開來的。

規程提供的是參考，你可以根據自己實際情況適當添加減少受檢點

“在能夠真實反映儀器示值誤差的前提下，受檢點越少越好”

還是應該按照檢定規程來進行檢定

必須在真實反映儀器示值誤差的前提下,可以適當減少受檢點。

回復 15# 規矩灣錦苑


    感謝您的指點、學習了！

回復 9# xqbljc


    謝謝！

主要是規程，但是如果有客戶要求具體檢哪個點，我們可以在除規程要求的點數外，給客戶校驗。畢竟現在市場經濟，客戶是上帝嘛。

回復 16# xqbljc

　　呵呵，在這點上我完全贊同你的意見，我們的觀點是一致的。這就是GB/T19022-2003（idt 10012:2003）關于測量過程設計的要求基本原則：“對每一測量過程，應識別有關的過程要素和控制。要素和控制限的選擇要與不符合規定的要求時引起的風險相稱?！倍嗔松倭硕疾缓?。
　　卡尺示值誤差檢定就是一個測量過程，受檢點數量的選擇也應該“與不符合規定的要求時引起的風險相稱”，這個“規定的要求”就是使用卡尺測量待測對象的測量過程的要求（測量過程對卡尺受檢點數量的要求）。如果我們選擇的受檢點數量少了一點，待測對象的測量過程引起的風險并不大，也就是告訴我們沒有特殊增加受檢點數量的必要。那么檢定規程規定的“不少于”三點和“不少于”六點就是基本要求。既然說是不少于，就是說等于也可以，取最少的受檢點數量三點和六點又何樂而不為呢。

回復 24# 規矩灣錦苑


    “與不符合規定的要求時引起的風險相稱”，此標準規定的原則主要是規程起草人員首先需要考慮的，檢定人員做為規程的執行人員則照章辦事就是了，一般情況下，檢定員沒必要也無須在受檢點數量上問題上考慮那么多，按照規程“不少于”的三點和六點基本要求就是了。當然，從考慮個人技術提高的角度，檢定員在“與不符合規定的要求時引起的風險相稱”原則基礎上，考慮增加受檢點數量也是值得鼓勵的。但前提依然是“在能夠真實反映儀器示值誤差的前提下，受檢點越少越好”，既然有了上述前提，再在“不少于”的基礎上增加受檢點數量，就有些多此一舉了。
      你談到的標準規定的基本原則，以及后面經論述得出的“多了少了都不好”的結論，完全可以被大部分人接受，本人也是支持的。探討問題的嚴謹態度，值得學習。