請教關于平面平晶的問題

平面度的公式是F=a/b×(λ/2)-△F 如果該平晶判定為凸，但[a/b×(λ/2)]＜△F，即F＜0，這時平晶的平面度應該多少？-F？還是判定為凸的？

此問題前后矛盾；
      第一個問題的答案：平晶的平面度=F的絕對值（理由：平面度的定義）；
      第二個問題的答案：不好下結論。因為問題的前面講“如果該平晶判定為凸”，那么后面就不應出現F＜0，這屬于前后矛盾。
     （ 糾正一點：根據通常用法，a/b×(λ/2)是否應改為b/a×(λ/2)，也就是講b為干涉條紋的彎曲量，a為干涉帶間的距離，所以，提問題應嚴謹。）

感謝你的回答和建議，剛剛接受平面平晶的檢定工作，公式不是很熟，下次一定注意。。。
現在我這邊的問題主要是等厚干涉儀成像質量有問題，對規程又不是很熟悉，暫時又沒人指導，所以一個頭兩個大 - -b

我不知道我理解的對不對，請各位前輩指教：
1、平面度F=│[b/a×(λ/2)]-)-△F│；
2、對于判定的問題是依據JJG28-2000附錄D中D.3的方法判定。

回復 3# jojo


      等厚干涉儀一般情況下成像質量不應有問題，估計是儀器的調整或光源部分沒有做到最好，干涉帶邊緣不是很清晰，應該是正常現象。另外注意調整后干涉帶應該是3或5條，而非3～5條，也就是講保證視場的中央有一條。再者應注意溫度變化和平衡溫度的時間，溫度對檢定結果影響是比較大的，標準平晶的修正量△F和F96計算問題，請看一下http://www.bkd208.com/thread-133030-1-2.html
      規程中附錄D中D.2平面度F的大小：F=b/a×(λ/2)，此處的F應理解為標準平晶平面度（△F）和被檢工作平晶平面度的二者疊加值，被檢工作平晶平面度應為F=│[b/a×(λ/2)]-△F│，估計你所談到的公式1、平面度F=│[b/a×(λ/2)]-)-△F│，是筆下誤。
      對規程的理解不一定對，供參考。新的平晶規程已審定，我已看到征求意見稿，應該講改動不大。
      你的理解刨除公式中的筆下誤，應該講是正確的。

恩，多謝幫助~

回復 4# xqbljc
您好！請教您幾個問題~~
在平面等厚干涉儀觀察到的平面平晶只要為封閉式干涉條紋，那就應該判定為不合格吧？
前幾天檢了一個直徑60的平晶，干涉條紋大概有5圈，技術規范上說是用圈數×光源波長（0.3μm），這樣的話就是1.5μm，感覺有點大啊，呵呵，就是心里沒底~~ 請問這種現象應該是正常的吧？？
再就是用等厚干涉儀檢平晶的時候，經常要用手緊壓被檢和標準平晶，或者用手把被檢平晶在標準平晶上來回移動（類似于研合），這樣的話視場里的干涉條紋才會變少，否則就不止3、5條了，會出現很多也很密的干涉條紋，我想問的是我的這種方法可取嗎？？

平面度不可能有負值，

回復 6# qc02071402


    談不上請教，我們共同探討交流。
    如果在等厚干涉儀目鏡里觀察到被檢平面平晶呈封閉式干涉環條紋狀，且能夠排除非清洗不干凈所至，那么可以說該被檢平晶屬磨損非常嚴重了，我們曾經檢過這樣的盲樣，其平面度差的非常多，估計是考核單位用一定的技術手段進行了非正常的加工。平面平晶的正常使用磨損一般不會如此嚴重，所以也應該在清洗，擦拭等方面找一下原因。
    在用等厚干涉儀檢平晶的時候，盡量不要用手直接接觸平晶進行調整，如果要在平晶某一位置加壓，可用竹鑷子加壓，確需用手接觸平晶進行調整時，必須帶手套，并盡量使接觸平晶的時間縮短。調整干涉條紋為3或5條，可以用你講的來回移動（類似于研合），也可以通過調整標準、被檢平晶間的間隙角度來進行調整。JJG28-2000平晶規程對檢定溫度，平衡溫度及溫度變化規定是比較嚴格的。由于被檢平晶是非金屬體，熱傳導比較慢，局部受熱會引起較大的局部變形，這些都是在檢定工作中需要嚴格注意的。

回復 8# xqbljc
謝謝，
對我很有幫助~~