顆粒碰撞噪聲測試介紹(PIND)

用于電子元器件封裝后,對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn),目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn). 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。

適用范圍：用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒，即PIND試驗(yàn)（Particle Impact Noise Detection）。

PNRD在電子研究所使用較為普遍,該儀器的校準(zhǔn)一般比照振動(dòng)和沖擊試驗(yàn)臺進(jìn)行,技術(shù)指標(biāo)依照儀器說明書.