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YS/T 27-1992晶片表面上微粒沾污測量和計數的方法
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YS有色金屬 | woshi_tjy 2008-6-14 | 0 4252 | woshi_tjy 2008-6-14 10:48 |
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SJ 20438-94紅外探測器用碲錫鉛晶片測試方法
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SJ電子 | woshi_tjy 2008-7-19 | 0 2517 | woshi_tjy 2008-7-19 15:30 |
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SJ/T 31092-94晶片數控切割(劃片)機完好要求和檢查評定方法
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SJ電子 | woshi_tjy 2008-7-24 | 0 2397 | woshi_tjy 2008-7-24 16:55 |
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SJ 3118-88晶片承載器
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SJ電子 | woshi_tjy 2008-8-3 | 0 1836 | woshi_tjy 2008-8-3 11:32 |
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GB/T 16596-1996 確定晶片坐標系規范
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國家標準 | woshi_tjy 2008-12-20 | 0 2783 | woshi_tjy 2008-12-20 15:00 |
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ASTM D 5814-2002 用于斑點試驗的聚對苯二甲酸乙酯薄膜和晶片...
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美國標準 | 兌水 2009-10-19 | 0 1888 | 兌水 2009-10-19 10:09 |
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ASTM F 1212-1989 砷化鎵晶片熱穩定性的試驗方法
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美國標準 | 兌水 2009-11-30 | 0 2263 | 兌水 2009-11-30 08:32 |
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