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發(fā)布時間: 2023-10-10 08:41
正文摘要:X射線熒光鍍層測厚儀是一種基于能量色散方法的非破壞性定量分析儀器,具有分析測量多種金屬材料成份和多種鍍層厚度的功能,廣泛應(yīng)用于電子、半導(dǎo)體、首飾、材料分析等行業(yè)。X射線熒光鍍層測厚儀測量鍍層厚度的原理是 ... |
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