GB/T 14146-1993 硅外延層載流子濃度測(cè)定和探針電容--電壓法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 14146-1993
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 硅外延層載流子濃度測(cè)定和探針電容--電壓法  
【 英文名稱 】 Silicon epitaxial layers-Determination of carrier concentration-Mercury probe valtage-capacitance method
【 發(fā)布單位 】 SBTS
【 批準(zhǔn)單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1993-2-6
【 實(shí)施日期 】 1993-10-1
【 所屬標(biāo)準(zhǔn) 】 GB
【 開本頁(yè)數(shù) 】 4P
【 采用關(guān)系 】 DIN 50439-1982,REF